专访上海菲莱：打造先进老化可靠性测试平台 保障光芯片高品质和一致性

  ICC讯（编辑：Cecilia）  如今，光网络正在演进为新一代具备数字化和综合承载能力的全光底座，给光通信产业链带来新一轮发展机遇。近日，讯石采访了光芯片Wafer/Die/COC老化和测试装备及服务提供商—上海菲莱测试技术有限公司(简称上海菲莱)，了解芯片检测验证对于光芯片和光通信网络的价值。

  上海菲莱副总经理刘力波向讯石介绍，公司成立于2018年，定位于光芯片(从wafer到COC)的测试以及AOI检测，并设有菲莱科技、菲光科技两个自主品牌，专注于为客户提供专业的光芯片工艺、测试、老化及可靠性验证设备和代工服务，面向3D传感领域，消费电子和光通讯领域，支持诸多光芯片(VSCEL/DFB/DBR/Pump Laser/Silicon photonics等)，目前公司成功与知名设备大厂建立稳定的合作关系，向其销售的可靠性测试设备已超过100台。

  光模块是光网络的核心部件，光芯片则为光模块提供传输能力，其的使用寿命和工作性能影响光网络连接质量。严格、高效的芯片检测和可靠性验证，是保障产品一致性和高品质的关键工序。光通信产业曾多次迭代，合格的高速光模块必须经受苛刻的品质验证，光芯片作为最大的故障来源是首要检测对象。而当前多数光芯片厂商无法覆盖全部环节，特别是芯片级的老化和可靠性测试，这给上海菲莱的专业检测服务提供市场空间。

菲莱专利与证书墙

  刘力波表示，针对光通讯市场旺盛需求和工艺特点，上海菲莱提前布局团队、产品和服务。公司现有员工90余人，包括一只技术精湛的研发团队，在光芯片制造领域有丰富的从业经验，核心技术人员长期从事光芯片后道相关工艺、测试及可靠性研究，对光芯片生产制造工艺和应用有深刻的理解。

  在产品方面，公司开发的VCSEL测试系统支持LIV+光谱测试，CW、QCW条件可自由配置，使用TEC+水冷进行温度控制，温度稳定性高，可控范围大，可适用于Wafer/Die/COB封装单个VCSEL或VCSEL阵列测试。

COC测试台(左) 和CCO老化系统(右)

  针对光芯片常用的老化测试，公司推出了中、低功率激光器老化平台，该平台采用远超20000小时运行的成熟软件，支持平台预警，数据实时提示和上传。温控系统为独立加热系统或加热制冷系统，灵活配置不同温区条件。该平台具有COC在线光功率监控系统，公司是国内唯二家能出货带有此功能的测试设备厂商，2020年还获得了欧盟认证。

无锡基地产线

  刘力波还表示，激光器老化平台平台采用全自动生产调试，可实现2个月内快速交付，目前已达到100台以上批量交付运行。除此之外，上海菲莱还推出测试校准系统、精密家具，针对COB、TO封装产品的烤箱式老化系统，旨在为客户提供完整的光芯片测试服务。

武汉洁净车间

  公司预计，光通讯核心光芯片国产化程度持续上升，突破多款高速光芯片国外垄断，公司紧抓市场机遇，在上海、天津、无锡、武汉设立公司，打造3000平方米的无锡制造服务基地，该基地配备一个600平方米的万级净化车间，以及3000平方米的武汉制造服务基地，该基地同样配备1300平方米的千级、万级净化车间。上海菲莱还坚持测试设备核心零部件的自主可控，开发低成本的驱动电源、自主设计精密夹具，以及开发稳定、恢复和易纠错的系统软件，最大保障程度保障设备服务的可靠性。

  当前，光芯片产业链正在持续迭代演变，上海菲莱将坚守在关键的配套检测环节上，打造先进的光芯片老化和可靠性测试服务平台，帮助光芯片产业和客户实现未来更大的市场价值。