光子集成回路Wafer Level Test网络研讨会（演讲视频分享）

讯石光通讯网发布时间:2022/2/22 11:11:07 编者:iccsz

摘要：近日，日立高新技术集团分享此前由ficonTEC公司主办、日立高新技术集团旗下的VLC Photonics S.L.公司参与的主题为 "PIC Testing with Wafer-level Test Systems" 的网络研讨会录制视频，介绍了VLC Photonics S.L.如何使用ficonTEC公司的测试设备提供PIC测试服务。

ICC讯 近日，日立高新技术公司主页上登载了由ficonTEC公司主办、日立高新技术集团旗下的VLC Photonics S.L.公司参与的网络研讨会。

这场网络研讨会时常30分钟左右，欢迎点击观看。

这场主题为 "PIC Testing with Wafer-level Test Systems" 的网络研讨会于去年举行，其中介绍了VLC Photonics S.L.如何使用ficonTEC公司的测试设备提供PIC测试服务。

网络研讨会概要内容如下：

由VLC Photonics S. L.公司首席执行官I?igo Artundo介绍VLC的PIC晶圆级测试技术，以及和ficonTEC之间进行对话形式的答疑。

第一部分：PIC测量需求和课题

第二部分：VLC的PIC测量解决方案(Automated Wafer-level Testing)

第三部分：用于端面耦合PIC测试的Wafer-Level Test技术

第四部分：答疑

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Email: optosales.aj.ml@hitachi-hightech.com

Tel: 0755-82029631

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内容来自：日立高新技术集团
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关键字: 日立高新技术测试设备 PIC
文章标题:光子集成回路Wafer Level Test网络研讨会（演讲视频分享）

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