武汉普赛斯电子邀您共聚2021深圳光博会

  公司简介

  武汉普赛斯电子是“武汉·中国光谷”一家高科技企业，专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案，以及自动化生产设备。

  产品覆盖BAR条器件、TO器件、OSA器件、光收发模块、BOB等生产线，旨在为光电器件生产客户提供完美的服务。

   联系方式：

  TEL.:027-89908766

  E-mail:pss@whprecise.com

  Add.:中国 湖北省 武汉市东湖开发区光谷大道308号光谷动力绿色环保产业园9栋4楼

  产品看点

•   芯片测试类

  BAR条自动测试系统

  Chip自动测试系统

  模块测试类

  400G高速误码仪

  光模块集成式老化系统

•   器件测试类

  TO三温测试系统

  TO焦距测试系统

  探测器组件测试分拣一体机

  高温盘测系统

  高精度国产数字源表

  台式S型

  插卡式C型

  脉冲P型

  大电流HCP型及PL型

•     CHIP自动测试系统

  普赛斯chip自动测试系统应用于光芯片 LD-CHIP 高温/常温 LIV 测试、SMSR 测试及背光抽测并 对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片 wafer 蓝膜上料，CHIP-ID 自动识别记 忆匹配测试，通过蓝膜顶针剥离机构，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温 测试区域，自动摆位，自动给电，收集发光参数，分析筛选，机械手搬运分档归类。

•     TO三温测试系统

  普赛斯 TO 三温测试系统支持 TO 工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃适用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持 LIV 特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。

•       BAR条自动测试系统

  普赛斯BAR条自动测试机用于 LD 巴条LIV曲线，光谱，背光自动测量。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

•   光模块集成式老化系统

  该设备用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统提供 2~5V 恒压以及最高 120℃高温老化条件，同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，通过 DDM 记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。最多支持 2016 只模块(SFP 封装)的 单次老化。

•   400G高速误码测试系统

  该产品是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪，最高支持8x56Gb/s PAM4信号测试，亦可支持10G~28Gb/s NRZ信号测试，设备包含8路PPG，8路ED收发端信号可同时或者独立工作，单路最高支持56Gb/s PAM4信号，支持多类型码型测试方案。发端包含多级预加重调节模式，可针对PAM4信号进行眼型调节等功能，收 端包含0~9dB CTLE均衡调节，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能，可实现 PRBS错误校验与修正，KP4/KR4 FEC协议，具备 SNR监测功能。可广泛于 100G 模块、200G 模块、400G 模块、AOC、光器件及子系统研发生产等光测试场景，亦可为高速光收发模块自动化生产测试提供最佳解决方案。

  第23届中国国际光电博览会(CIOE 2021)

  普赛斯展位信息

  展会时间：2021年9月16-18日(周四-周六)

  展会地点：广东. 深圳国际会展中心 (广东省深圳市宝安区福海街道展城路1号)

  普赛斯展位号：4号馆 4A78