EXFO发布|适用于制造和研发应用的光测试解决方案（中）

  ICC讯 先前，EXFO发布了「适用于制造和研发应用的光测试解决方案（上）」，来自EXFO的先进光谱分析仪OSA20、可调谐滤波器XTA-50和XTM-50展现了在产线和实验室环境中的强大光测试能力。续上文，继续为大家介绍EXFO的器件测试平台CTP10、台式可调谐激光器T200S和T500S的高性能规格、高效与经济。

  器件测试平台

  CTP10是一种模块化的测量平台，可高效地测试全天候运行的高端口数无源器件。CTP10与一个或多个EXFO的扫频可调谐激光器配合使用，提供非常高的扫频插损(IL)、偏振相关损耗(PDL)和回损(RL)测量性能。

  1.在全速运行时仍保持高性能规格

  即使在使用激光器，以100 nm/s的速度运行时，CTP10仍然能够保持在业内属于高水准的性能规格。您不再需要在扫描速度和测量精准度之间做出妥协，因为CTP10在单次扫描中的动态范围可达70 dB，即使在扫描速度为100 nm/s的情况下其采样分辨率也能达到1 pm。

  CTP10是鉴定高端口数先进WDM器件(如波长选择开关(WSS)的理想工具。它还特别适用于在研发和制造环境中对光子集成电路(PIC)进行光测试。

  2.下一代平台和模块

  IL RL OPM2：插损和回损测量模块，配有两个光检测器

  IL PDL：插损和偏振相关损耗测量模块，覆盖C+L电信波段

  IL PDL OPM2：插损和偏振相关损耗模块，配备两个光检测器，在CTP10的整个工作波长范围内进行测量

  SCAN SYNC：对扫频波长激光器进行光采样

  OPMx：光检测器模块，配有2、4或6个检测器

  FBC & FBC-M：全波段合成器模块，分别用于对IL和RL或IL和PDL进行宽带扫频测量

  PCMx：光电流计模块，可选配2个或6个输入端口

  3.GUI功能强大、直观

  内嵌软件提供功能强大、直观的GUI，以图形方式配置测试、执行测量和分析。

  台式可调谐激光器

  T200S和T500S是非常先进、经济高效的解决方案，适用于所有研发和制造环境。

  这两种激光器可以和CTP10或CT440器件测试仪组成扫频测试系统，用于IL、RL和PDL扫频测量。此外，这两种激光器还可以独立使用，采用步进模式。

  可用型号

  T200S有2个型号:/O和/CL激光器，输出功率为10 dBm，主要用于电信应用。

  T500S有5个型号:/O、/ES、/SCL、/CL和/CLU激光器，在特定波长范围内输出光功率可从10 dBm调节到13 dBm的最大可用光功率。

  将T200S和T500S系列激光器与EXFO的器件测试平台CTP10结合起来使用，由此形成的测试解决方案能够以高分辨率和高精度提供诸如插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）之类的光谱测量。非常适合PIC行业既需测试效率，又需测试精确的要求！