EXFO 推出 CTP10 新版本，光谱分辨率提高了50倍！

  CTP10 光谱分辨率提高了50倍

  强大的无源光器件鉴定功能

  集成光子技术为微环谐振腔等突破性器件扫清了障碍，这些器件有望彻底改变电信行业的面貌。然而，到目前为止，此类复杂器件的光谱测试一直受限于测试系统的能力，经常不得不牺牲测量的精准度和速度才能获得鉴定它们所需要的高光谱分辨率。

  现在，EXFO 很高兴地宣布推出新的软件版本，使 CTP10 能够实现 20 fm 的光谱分辨率，从而将该模块化器件测试平台的分辨率提高了50倍。

  借助这个新功能，我们可以对光谱对比度要求很高的无源光器件进行亚皮米级的损耗测量（IL、RL 和 PDL）。但这种高分辨率并没有牺牲测量的波长精准度或可重复性，可以在很高的扫描速度下实现——非常适合进行重复的晶圆级测试。

  已经有了 CTP10？

  只需立即下载新版本的软件，即可获得：

  · 高分辨率的测量功能：最高可达20 fm（扫描速度为20 nm/s时）。

  · 触发式记录测量功能：增强了测量瞬态光学现象或通过外部触发测量的能力。

   全面兼容 EXFO 的最新连续可调谐激光器：T200S 和 T500S

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并加快您测试无源光器件的能力！

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