Santec推出基于OFDR技术光器件链路分析仪

  ICC讯 Santec最新推出的的基于光频域反射(OFDR)技术的光器件链路分析仪SPA-100，采样分辨率高达5um，得益于Santec高精度、160nm宽波长调谐范围的激光器。5um高采样分辨率能力，可以帮助研发人员分析各种精密光子系统的空间分布和故障，缩短研发时间。

  典型的应用场景

  1、硅光子器件事件分析

  硅光子器件一般是会包含硅光芯片和其他芯片的混合集成器件，这样的混合器件中，光链路中总会有一些事件点，可能会造成光学性能的的差异。如何精确得知这些故障点以及性能呢?SPA-100可以帮助到你。

  2、光学链路分析

  在一些较长的光学传感链路中，也会有不同的事件点，如何精确得知具体哪一个事件出现故障或者性能的劣化，就需要OFDR的分析仪来进行监测, 通常这种链路中，OTDR的分辨率是不能满足测试要求的。

  3、芯片耦合过程中距离监测

  光探针在逐渐靠近硅光芯片或者晶圆进行耦合的过程中，可能会因为接触而造成芯片或者晶圆的损伤，Santec 的OFDR 在探测性能的同时还提供额外的距离探测的功能，最大限度提高耦合效率并保护芯片和晶圆。

  4、WDL 性能分析

  SPA-100 提供2个测试端口一个端口用于OFDR分析，另一个端口可以同时扫描得到透射光谱，分析各种波长相关性测试指标。160nm的波长范围，高达70dB的动态范围。

  得益于Santec高精度、160nm宽波长调谐范围的激光器，Santec的OFDR 分析仪可以达到业内领先水平，能够更好的助力高精度硅光子器件的研发过程。

  同时，Santec 的OFDR 仪表设计充分考虑了客户的投资，光器件链路分析仪SPA-100可以配合客户现有的Santec可调谐激光器(TSL-770,TSL-570,TSL-710,TSL-550)完成上述各种场景的测试。

  关于产品详情可浏览官网：https://www.santec.com.cn/