EXFO | 适用于制造和研发应用的光测试解决方案（下）

  ICC讯  在产线和实验室环境中，有哪些出类拔萃的光测试解决方案组合备受青睐？

  本文将为您介绍来自 EXFO 的 OPAL-EC 端面耦合的晶圆级测试台。它能够执行精准、可重复、灵活、快速的光子集成电路(PIC)测试，提供可追溯的测试结果。适用于从研发到多点量产的各种应用环境，能够在集成的光子平台上进行光电子测试，也能广泛应用于电信和数据通信光模块、量子、激光雷达(LIDAR)、传感器、人工智能(AI)。

  适用于集成光子器件的自动化测试台  

  OPAL-EC 端面耦合晶圆级测试台采用过精准、可重复、灵活且快速的硬件，提供先进的集成光子电路鉴定功能。PILOT软件套件强化了OPAL-EC的硬件功能，将其变成一个自动化测试台和高质量的测量平台，将测试结果变成可付诸实施的数据。整套应用成为一个平台，支持完整的测试和测量流程，帮助用户变得更加以数据为导向。这一个完整的平台与EXFO的先进光学测量功能相结合，并对任何第三方仪表开放，成为理想的PIC测试解决方案。

  业内首创——该测试台采用先进的组件，因此能够通过沟槽耦合在晶圆上实现全自动且可重复性高的多端口光学端面耦合对准。这种水平的精准度打破了通常需要再安装垂直光栅耦合器，才能进行晶圆级裸片筛选的做法。这反过来又可以在生产链的更早阶段测试整个电路，包括用于封装的生产端口，从而省去了成本高的步骤，并提高了全球产量和电路性能。还支持在现场快速地重新配置好测试台，进行垂直耦合校准。

  OPAL-EC是专用于PIC测试的OPAL系列测试台的一部分。该系列还包括仅支持垂直耦合的测试台OPAL-SC，以及单裸片测试台OPAL-SD，这些测试台均采用PILOT软件。

  PILOT自动化软件

  PILOT是一个软件平台，可编排PIC测试和测量的完整流程：准备；以高吞吐量执行全自动的导航、校准和测量以及对结果进行分析和数据管理。

  1.功能强大、易于扩展

  从软件架构到实施，PILOT在时间和数量上都具有可扩展性，并有助于实施最佳实践。它通过自动化简化了各种任务(准备、数据分析、报告)和测量(导航、校准、仪表控制)，从而提高了效率。该软件由多个应用组成，每个应用都针对特定任务进行设计，概念和职责分离。

  2.数据库优势

  该软件以各种应用为基础，与数据库(云端或内部)相连，该数据库保存了所有元素(结果和实验条件、测试台配置、测试定义、组件定义、驱动程序、python脚本)的数据。PILOT可实现多用户、多地点协作，共享共同的数据工作空间。该数据库为关系型的，具备可追溯性，并可以进行扩展以支持大容量，使系统具备本地兼容性，并通过内置工具或互操作性支持高级数据分析、人工智能和商业智能工具。

  OPAL测试台包括OPAL-EC主系统和PILOT软件。OPAL平台提供了一个灵活的测试环境来构建自定义配置，可以根据您的需求随时进行修改，并降低了测试设计(DfT)要求。

  注：可以前往EXFO官方微信公众号，点击相关推文观看演示视频，下载规格书，了解如何使用自动化探针台测试光子集成电路（PIC）