新品发布 | 联讯仪器4通道PXIe SMU S2019C，以1μV/1pA分辨率实现超高精度测试

  ICC讯 联讯仪器最新推出的S2019C四通道PXIe SMU，在保持S2011C/S2012C/S2016C系列硬件平台优势的基础上，实现了功能升级与性能突破。该设备创新性地集成了自动量程等智能化功能，具备四通道同步输出与测量能力，支持±40V宽电压范围输出，并提供±500mA（直流）和±1A（脉冲）双模式电流输出。其突破性的pA级电流测量精度，配合优异的动态性能表现，完全覆盖传统型号的所有应用场景，能够满足5G射频器件、光电器件对测试精度和稳定性的严苛要求。

  1、产品特点

  分辨率高达1μV/1pA

  电流分辨率低至1pA，电压分辨率达1μV，精准捕捉nA级漏电、μV级信号波动。

  4通道独立/同步控制

  支持四通道并行输出与测量，可同时完成多器件IV特性扫描或特征参数测量，大幅提升测试效率。

  ±40V/±1A宽域动态覆盖，脉冲源与直流源集于一身

  直流±40V/±500mA，脉冲±1A输出能力，轻松应对半导体器件测试、高精度传感器采集等场景。

  1MS/s高速采样 + APFC动态调优

  1MS/s超高速ADC采样率，结合自适应精密快速控制（APFC）技术，实现输出波形亚毫秒级稳定，瞬态响应无延迟。

直流IV输出能力

  多卡同步 + 全栈自动化支持

  基于PXIe协议，支持多卡级联扩展与硬件同步触发； 采用标准SCPI进行控制，支持C#、Python、C/C++、LabVIEW等编程语言控制，无缝融入现有测试平台。

  2、典型应用

  半导体测试/硅光晶圆测试

  半导体测试：MOSFET/ IGBT/BJT IV特性分析

  ►±40V/±1A宽范围输出和测量，搭配1μV/1pA分辨率，精确测量nA级到A级的电流变化。

  ►单卡四通道独立输出，匹配四端器件测试更加经济高效。

  硅光晶圆测试：破解高集成芯片的暗电流难题

  在硅光芯片制造中，nA级暗电流的精准测量直接决定器件性能与良率

  ►S2019C凭借1pA分辨率，可稳定捕捉超低暗电流信号，搭配4通道并行架构，支持晶圆级多探针同步测试，实现硅光器件漏电流、响应度等参数的全覆盖分析，为800G光模块、激光雷达芯片提供可靠性保障。

硅光晶圆多探针同步测试

  结语

  S2019C 4通道PXIe SMU

  精准捕捉毫伏/纳安级信号，掌握微弱变化

  覆盖复杂工业场景，应对各类严苛测试环境

  实验室级数据精度，助力科研创新与工业升级