欢迎莅临 | 联讯仪器携800G TestHead 参加2023深圳光博会

  ICC讯 第24届中国国际光电博览会将于2023年9月6-8日深圳国际会展中心(保安新馆)举办，联讯仪器将携400G/800G Test Head 参会，展位号:10A73，欢迎莅临指导!

400G/800G 光模块测试解决方案

  分立测试解决方案

  基于独立的台式仪表，包括误码仪，示波器，时钟恢复单元等，实现最大程度的灵活性

分立仪表400G/800G FR4 测试框图

  集成式Test Head

  除传统分立测试平台外，联讯仪器还提供高集成化Test Head

  MTP4101/MTP4102/MTP4104，支持10Gbps~400Gbps 光模块测试

  MTP8102，支持800Gbps OSFP/QSFP-DD光模块测试

  Test Head 特点

  Test Head集误码分析仪(BERT)，MCB测试板，TEC温度循环控制系统为一体，实现不同温度环境下高速光模块的误码测试

  集成式MCB测试卡，实现灵活快捷的DUT MCB更换

  集成式误码仪平台，省去额外的线缆连接，进一步减少测试台空间和成本

  集成TEC温度控制系统，支持模块温度循环测试

Test Head 支持模块类型及并行测试数量

  800G Test Head 2xFR4 测试框图

800G Test Head 2xFR4 测试框图

  核心仪表特点及介绍

  DCA6201 采样示波器

  多种 Filter 可选，25.78/26.56/27.95/28.05Gbps，265625/28.9Gbaud PAM4

  通过 SIRC可扩展filter 范围(12.44Gbaud-56Gbaud)

  支持53Gbaud PAM4(SIRC)眼图测试

  支持 50GPON OLT TDEC(SIRC)测试

  支持 NRZ和PAM4 的测试

  56G 波特率时钟恢复单元

  联讯仪器CR6256时钟恢复单元，支持24.8832~32.5 Gbaud/49.7664 ~56Gbaud速率下的NRZ/PAM4信号时钟提取，广泛应用于单波53 Gbaud光模块及接口提取时钟

  单多模一体集成，可支持单模和多模光信号时钟恢复

  高灵敏度

    12dBm @ 53.125 Gbaud PAM4

  14dBm @ 26.5625 Gbaud PAM4

  低抖动，恢复时钟随机抖动典型值 290fs

  800G误码仪

  联讯仪器PBT8812高速串行误码仪，支持24.33~56.25 Gbaud符号速率，完全覆盖 200/400/800Gbps 光模块测试场景

  各通道可独立配置为NRZ或PAM4信号制式

  支持接收端电眼直方图及信噪比测量

  支持 3 阶/7 阶模式下，发射端的预加重及去加重调制

  支持真实FEC产生和测试分析

  关于联讯

  联讯仪器是国内高端测试仪器和设备提供商。主要专注于光网络测试、光芯片测试、电性能测试和功率芯片测试。可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪，通用数字源表等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE， 激光器芯片老化机，激光器芯片测试机，硅光晶圆测试机，功率芯片测试机，晶圆老化机等高端测试设备。

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