深度剖析国产自研光学测量测试系统

  ICC讯 昊衡科技致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠的测试解决方案，推出了一系列光学测量测试系统。其中高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V)备受大家关注，为了便于大家选择适合自己的产品，昊衡科技将进行深度剖析，探究它们究竟有何不同之处。

  OCI高分辨光学链路诊断系统

单端反射式测量

 分布式回损、插损、光谱、群延时测量

OCI-V光矢量分析系统

双端透射式测量

自校准

  不同点有三个方面，分别是测量原理、测量参数以及产品应用。

  测量原理

  高分辨光学链路诊断系统(OCI)采用的是OFDR光频域反射技术，检测待测光纤中背向瑞利散射信号，实现对光纤链路的全方位诊断;

  光学矢量分析系统(OCI-V)采用线性扫频光源对带测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得各光学参数。

  测量参数

  高分辨光学链路诊断系统(OCI)测量分布式插损、回损、光谱、群延时等光学参数;

  光学矢量分析系统(OCI-V)测量PDL(偏振相关损耗)、PMD(偏振模色散)、IL(插损)、GD(群延时)、CD(色散)等光学参数。

  另外，在系统设备显示上也有所差异，OCI显示横坐标为长度，纵坐标为反射;OCI-V显示横坐标为波长，纵坐标为各待测参数，其含义是测量不同波长下的各参数值。

  产品应用

  高分辨光学链路诊断系统(OCI)主要应用在光器件、光模块测量，光纤长度精确测量，硅光芯片测量，光谱、群延时测量等。

  光学矢量分析系统(OCI-V)主要针对于无源器件(平面波导器件、硅光器件、波长可调器件、放大器等)测量。

  OCI测量光纤链路，测得各位置处的分布式损耗，空间分辨率高达10μm。

  OCI-V测量HCN气体吸收室，测得不同波长下的插损，波长精度可达1.6pm。

  相同点是OCI与OCI-V均产自昊衡科技，属于国产自研产品。设备自校准，无需人为干预，稳定性非常好，能精准测量各待测参数且极大节省测试时间。

  现在，大家都更加了解高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V)吧，如有任何问题，欢迎大家咨询!

  昊衡科技

  一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是国内唯一一家实现OFDR技术商用化的公司。

  目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。

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