昊衡科技发布用于无源器件测量的光矢量分析系统

  昊衡科技发布的OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。

  测量参数

  偏振相关损耗PDL

  偏振模色散PMD

  插损IL

  群延时GD

  色散CD

  琼斯矩阵参数

  光学相位

  昊衡科技的OCI-V光学矢量分析系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间，是一款实现光学器件损耗、色散和偏振测试分析的理想工具。

  昊衡科技：

  一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是国内唯一一家实现OFDR技术商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。了解更多详情，请访问昊衡科技网站http://www.mega-sense.com/。