EXFO诚邀您共赴CIOE 2024深圳光博会，探索光电子集成技术新纪元

  ICC讯 EXFO邀请您参加9月11日-13日在深圳举办的2024中国光博会（CIOE）。我们的专家将在10B53展台展示 OPAL-MD 如何通过无与伦比的测试精度和效率，提升您的测试流程。通过我们的OPAL-MD自动化测试探针台解锁集成光电子技术的未来。

使用自动探针台进行光电子集成电路 （PIC）测试

新技术，新挑战！

EXFO新款探针台！

  业界领先的晶圆级端面耦合探针测试平台将在EXFO展台首次亮相，诚邀您莅临现场，共同探索这一创新技术的无限可能。

  从PIC晶圆到光学组件和模块自动测试——集成、无缝和快速的硅基光电子测试。

  ◉ 准确性/可重复性：通过高精度对准和测量技术获得可追溯的结果。

  ◉ 快速测试：将对准和测量时间保持在最低限度。

  ◉ 领先的测试动态范围：在单次测量中可以看到完整的大于70dB光学光谱对比度。

  ◉ 灵活性和可扩展性：模块化设计及与第三方的兼容性，随着时间的推移提高测试吞吐量和复杂性，或根据需要优化设备。

  ◉ 自动化：利用自动化晶圆测试软件高级功能，可自由集成任何测试仪器，根据用户自定义测试序列执行测试，并进行大数据分析，以最小成本完成海量电路测试。

  ◉ 单个平台可以兼容single die, multi-die 和300 (mm) / 12-in 晶圆测试。

EXFO展位位置如图：10号馆10B53

  敬请莅临EXFO展台，现场了解OPAL-MD自动化测试探针台如何提升您的光子集成芯片测试能力。

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我们期待着与您在展会现场交流，为您的创新赋能。