CIOE2020 | 普赛斯携芯片系列解决方案及400G误码仪成功参展

  ICC讯 9月9-11日，武汉普赛斯电子技术有限公司携全系列光芯片、光组件、光器件、光模块测试设备与最新技术方案亮相中国光博会(CIOE)，成立于2010年的普赛斯电子专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案，以及自动化生产设备。产品覆盖BAR条器件、TO器件、OSA器件、光收发模块、BOB等生产线，旨在为光电器件生产客户提供完美的服务。

  在10年的发展中，普赛斯电子已经成为国内光通讯测试仪器仪表商的领先代表。随着光通讯产品的快速升级迭代，仪器仪表的新产品是每年观展的亮点。在2020年的深圳光博会上，普赛斯电子现场展示了COC老化系统、BAR条自动测试机、探测器组件测试分拣一体机、CHIP TESTER、全新8路ED收发400G高速误码仪、SFP模块老化、LD集成式老化系统等。

  光芯片全自动测试机

  光芯片全自动测试机应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片 wafer 蓝膜上料，CHIP-ID 自动识别记忆匹配测试，通过蓝膜顶针剥离机构，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温测试区域，自动摆位，自动给电，收集发光参数，分析筛选，机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构，配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术，具有批量生产能力。

  功能特点

  芯片蓝膜上料，通过视觉系统自动识别芯片ID，并可根据蓝膜上物料得摆放形式设定拾取搜索路线。顶针剥离机构剥离芯片，机械手自动拾取;

  通过校准台对拾取归放完毕的芯片进行二次定位;

  探针自动下压加电，探针下压力度可调;

  高温，常温测试台，温度采用闭环控制;

  光纤准直器及PD自动切换收光，测试常温及高温P4-V，常温背光光功率，常温和高温光谱特性;

  机械手对测试NG物料自动抛料;

  测试OK物料根据测试结果自动分档归类;

  设备所有运动轴均可独立复位;

  可用标准TO及芯片进行校准，并对其他工艺参数进行设置;

  软件中加电条件、测试温度等测试参数可设定;

  针对生产过程中的重要环节均有实时动态提示;

  生产过程中的异常情况均有报警提示及纠错提示功能

  测试分选区支持4-6WaferRing，每个WaferRing可通过软件设置进一步细分档位。

  探测器组件测试分拣一体机

  产品简介

  适用探测器组件(无需做老化测试的PIN-TIA或者APD器件)的测试及下料分拣，可与封帽机无缝对接，采用其下料盒上料，实现插管脚、测试、分档、下料至吸塑盒全过程，最终产出成品。

  功能特点

  光源带1MHZ调制信号;

  可以测试在调试光信号条件下的Vpp值;

  响应度测试;

  光源稳定性高;

  支持1310nm，1490nm，850nm光源输出;

  全自动插料、下料;·支持多种料盒提篮式上料;

  最多支持6个下料档位;

  管脚方向图像识别;

  下料盒孔位图像识别;

  器件插入SOCKET失败报警功能，不损伤器件管脚;

  器件放料失败报警功能;

  根据不同客户需求，定制化的数据存储功能。

      BAR自动测试机

  产品简介

  普赛斯BAR自动测试机用于LD巴条LV曲线，光谱，光自动测量。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝跌下料。常温、高温双湿测试，高温测试温度可由用户自定。单或双探针加电，测试NGchip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

  功能特点

  支持多种主演规格料盒，全自动上下料，避免转料或人工操作对巴条chip造成的报废;

  单台集成常温测量台和高温溟量台，前光LV曲线、功率、光诺测量，背光功率测量，多参费多条件筛分，尽可能筛选出不良chip，避免流入后道工序;

  多维度可调测量结构，满足用户对不同夏核巴条测量需求;

  全自动测控程序，支持chip编码识别，NG Chip保用打点标记。

  400G高速误码仪(PSS BERT19881)

  产品简介

  普赛斯400G高速误码测试系统(PSS BERT19881)是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪，最高支持8x56Gb/sPAM4信号测试，亦可支持10G-28Gb/sNRZ信号测试，设备包含8路PPG，8路ED收发端信号可同时或者独立工作，单路最高支持56Gb/sPAM4信号，支持多类型码型测试方案。

  发端包含多级预加重调节模式，可针对PAM4信号进行眼型调节等功能，收端包含0~-9dB CTLE均衡调节，也可支持FFE、DF等均衡功能，支持FEC功能，可实现PRBS错误校验与修正，KP4/KR4FEC协议，具备SNR监测功能。可广泛于100G模块、200G模块、400G模块、AOC、光器件及子系统研发生产等光测试场景，亦可为高速光收发模块自动化生产测试提供最佳解决方案。

  期待普赛斯电子保持创新，为光通信带来高性能高性价比的产品，用强实力助力5G及数据中心产业快速发展。