【CIOE2017】普赛斯又双叒展新产品啦！

        ICCSZ讯 9月6日至9月9日，中国光博会在深圳会展中心隆重开幕，领先的光电器件与模块测试专家—武汉普赛斯电子技术有限公司携新产品隆重参展。3月份，讯石在武汉拜访普赛斯时，特别介绍了SFP模块四工位并行测试系统，用于不同速率SFP模块的性能测试，便于客户操作，可以实现四个模块同时检测。

SFP模块四工位并行测试系统

本次讯石来到普赛斯展台1号馆1F09，有看到了公司推出新的一系列产品：抽屉式老化测试系统、100G误码仪、BAR条自动测试系统、EML器件生产测试系统。除此以外，全系列光芯片、光器件、光模块、光猫完整的测试设备与最新技术方案都在站台上进行了展示。那么下面就随文章看看此次我们看到的重点产品的真容和具体功能吧。

1.抽屉式老化测试系统

简介：

* 产品机身11层，每层4个抽屉，总共44个抽屉

* 机身金属严格接地，上端有负离子风机，最大限度的保证COC和ESD的安全

* 内置USP，保证异常断电时客户的chip的安全

* 适用于COC、BOX的封装

优势：

* 抽屉式设计灵活方便

* 定位精准，加电可靠

* 稳定性和安全性更好

2.LD TO器件的自动盘测系统

特点：

支持TO-CAN封装激光器，常用供阳型和独立型，多种管脚定义切换

可以和普赛斯化箱一体设备、分拣设备配套使用，提高工作生产、效率测试。

支持多种光谱仪接口，测试光谱特性

可靠的ESD/EOS防护

3.PIN/APD TO器件的自动盘测系统

用途：用来自动测试的64颗老化盘PIN/APD TO器件的综合参数

功能：自动测试64颗器件的击穿电流、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性，具有高度集成、高速、高稳定性的特点

4.EML器件的生产测试解决方案

64路EML器件的TE测试系统

特点：支持64卢EML TOSA器件的高温、低温、温遍环境的LIV测试

电路设计安全可靠，保护被测器件

支持光谱仪借口，软件显示光谱测试结果

5.EML器件的老化监控系统

特点：

给EML TO器件提供老化电流，实时监控老化电流

EA电压可设，AC模式1K-10KHz

老化数据实时自动记录

6.EML器件智能耦合电源

特点

PID快速温度稳定算法

EA电压耦合可设

驱动模式丰富，档位自动切换

适用于自动耦合机的驱动电源

7.EML器件的综合测试系统

选配外置大面积PIN管，测试TO出光

软件算法灵活选择

软件界面操作简单，数据保存条件灵活

支持单颗器件的TE/TC测试

8.LD TO器件的老化监控系统

特点：

可提供0-100mA的老化电流，温度范围最大可达170℃

可实时监控背光电流，通过背光计算阀值变化

两个独立老化箱体，可配置老化不同产品

备至UPS电源，意外断电保护

9.PIN/APD TO器件老化监控系统

特点：

提供100uM~200mA的老化电流，支持10G/25G APD TO器件

实时同时监控霸屏村VCC和APD的电流和电压

两个独立老化箱体，可配置老化不同产品

温度范围可达170℃，内置UPS电源，意外断电保护。

10.三向/四向器件综合测试系统

适用于两发两收、四端口器件，支持DML和EML发射

EML Tx端：阀值，LD正向电压，MPD暗电流，MPD背光电流，光功率，EAPo，Vea,斜效率，KinK，TE,TC,Tx端功率LIV曲线，EA的P-V曲线等。

DFB TX端：阀值，LD正向电压，MPD背光电流，MPD暗电流，光功率，EAPo，Vea,斜效率，KinK，TE,TC,Tx端功率LIV曲线，EA的P-V曲线等。

RX端：Vbr，Icc,暗电流，灵敏度，过载，响应度，倍增，内部光串扰，外部光串扰。

11.双0°/45°自动贴波片系统

特点：高精度、高效率、高智能

        看了这么多的产品，想必对普赛斯今年参展的亮点产品已经有所了解，武汉普赛斯电子是“武汉·中国光谷”一家高科技企业，经过几年来的光器件产线测试仪器仪表的开发和完善，逐步完善了光通信、光纤传感、半导体等器件的生产测试方案。产品涵盖BAR条器件、LD-TO、PD-TO器件;TOSA、ROSA、BOSA等器件;光通信收发模块;以及器件的老化等方向。目的是为光电器件生产的客户提供完美的服务。

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