ICC讯 联讯仪器宣布推出内置时钟恢复的采样示波器DCA1065和独立时钟恢复单元CR3302,满足最新1.6T AI光互连算力接口 / 单波224Gbps PAM4信号时钟提取和眼图分析。
随着AI(人工智能)以前所未有的速度蓬勃发展,海量数据驱动AI智算中心内部带宽需求不断提升。据Dell’Oro Group 预测,2025年是1.6T开始商用的元年,凭借超高的带宽和传输速率,1.6T将成为支撑AI算力提升的关键,于2027年成为主流。
AI/ML训练对网络带宽和可靠性的更高要求,算力接口作为数据交互的核心枢纽,性能优劣直接决定了整个AI系统的运行效率和稳定性。随着带宽进一步升级到1.6T,算力接口的测试尤为重要,一个故障或未优化的光模块可能中断整个AI工作负载,造成巨大的时间和资金浪费,网络设备制造商及光模块厂商必须对算力接口进行严格的测试来确保通信质量,这需要具有高带宽、高灵敏度、低噪声且符合行业标准的采样示波器+时钟提取单元来完成精准测试。
DCA1065内置时钟恢复采样示波器
CR3302独立时钟恢复单元
单波224GbpS PAM4信号全速率时钟恢复与眼图分析
专为1.6T光互连算力接口时钟提取和眼图分析而设计制造
联讯专注于高端光电测试仪器的自主研发和生产,通过核心芯片/器件的不断突破、核心算法的不断完善,联讯采样示波器和时钟恢复系列产品实现了快速迭代,逐步成为了高速通信信号测试分析的关键测试工具。随着DCA1065和CR3302的推出,联讯成为国际上第二家能够支持1.6TAI算力接口模块完整眼图分析和时钟提取的供应商。
关于联讯
作为国内高端测试仪器领军企业,联讯聚焦高速通信、光芯片及半导体晶圆芯片测试领域,已形成 “仪器 + 设备 + 解决方案” 的完整生态。其产品矩阵包括:
高速测试仪表:采样示波器、时钟恢复单元、误码仪、波长计、精密源表等
光芯片测试设备:激光器CoC老化、裸芯片测试、硅光晶圆测试系统等
半导体测试设备:SiC晶圆老化、SiC 裸芯片KGD测试分选、WAT晶圆参数测试系统、WLR/PLR可靠性测试系统等高端测试设备等
行业解决方案:1.6T 光互连测试方案、CPO 共封装光学验证方案等
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