CIOE2021 | 普赛斯电子携芯片、器件系列测试产品圆满参展

  ICC讯 2021年9月16-18日，武汉普赛斯电子技术有限公司参加中国国际光电博览会(CIOE 2021)深圳国际会展中心(宝安新馆)展位号4A78，重点展示了多款芯片测试类、器件测试类产品以及普赛斯仪表公司的高精度仪表产品。

  CHIP自动测试系统

  普赛斯chip自动测试系统应用于光芯片 LD-CHIP 高温/常温 LIV 测试、SMSR 测试及背光抽测并 对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片 wafer 蓝膜上料，CHIP-ID 自动识别记 忆匹配测试，通过蓝膜顶针剥离机构，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温 测试区域，自动摆位，自动给电，收集发光参数，分析筛选，机械手搬运分档归类。

  TO三温测试系统

  普赛斯 TO 三温测试系统支持 TO 工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃适用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持 LIV 特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。

  光模块集成式老化系统

  该设备用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统提供 2~5V 恒压以及最高 120℃高温老化条件，同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，通过 DDM 记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。最多支持 2016 只模块(SFP 封装)的 单次老化。

  400G高速误码测试系统

  该产品是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪，最高支持8x56Gb/s PAM4信号测试，亦可支持10G~28Gb/s NRZ信号测试，设备包含8路PPG，8路ED收发端信号可同时或者独立工作，单路最高支持56Gb/s PAM4信号，支持多类型码型测试方案。发端包含多级预加重调节模式，可针对PAM4信号进行眼型调节等功能，收 端包含0~9dB CTLE均衡调节，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能，可实现 PRBS错误校验与修正，KP4/KR4 FEC协议，具备 SNR监测功能。可广泛于 100G 模块、200G 模块、400G 模块、AOC、光器件及子系统研发生产等光测试场景，亦可为高速光收发模块自动化生产测试提供最佳解决方案。

      普赛斯TO56自动盘测系统

  普赛斯TO56自动盘测系统，适用于VCSELFP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN-TO-CAN或32颗7PIN/8PIN-TO-CAN,支持任意引脚封装测试，支持高温测试、TEC温控、LIV特性测试以及光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

  武汉普赛斯电子是“武汉·中国光谷”一家高科技企业，专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案，以及自动化生产设备。产品覆盖BAR条器件、TO器件、OSA器件、光收发模块、BOB等生产线，旨在为光电器件生产客户提供完美的服务。

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