昊衡科技推出光通信领域整体测试方案

  ICC讯 昊衡科技专注于高端光学测量与传感测试系统研发和应用解决方案开发，拥有OFDR核心技术。产品主要用于无源光器件、硅光芯片、光模块、平面光波导等光学链路损耗、色散、偏振、延时等参数测量。设备包括OCI-V光矢量分析系统，OCI1500/1300高分辨光学链路诊断仪，OCI-T光学器件测量仪以及OCI-L光纤长度测量仪。昊衡科技致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠和更经济的测试解决方案。

OCI-V 光矢量分析系统

  OCI-V光矢量分析系统通过可调光源对待测器件进行扫描，单次测量，即可获取光器件在宽谱、精细波长下的插损(IL)、群延时(GD)、色散(CD)、偏振相关损耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多项光学参数。系统采用独特光路设计以及先进算法，实现自校准，测量稳定性、重复性好，操作简单，极大节省测试时间。OCI-V是一款可靠的光学多参量测量工具，在光器件设计、研发、生产全过程中发挥重要作用，并为改善设计、优化结构和评估工艺等提供可靠依据。OCI-V目前处于新产品市场推广与导入阶段，欢迎行业客户联系沟通。昊衡科技将提供免费试用与专业的技术支持。

  OCI系列光学链路诊断仪

  OCI1500/1300原理基于光频域反射(OFDR)技术，单端连接。单次测量可实现从器件到链路全范围分布式测量。能够轻松查找并判别光纤链路中宏弯、连接点，精确测量光纤长度、回损、插损、光谱和群延时等光学参数。其微米级空间分辨率、无盲区、高精度测量特点对于光学链路诊断和器件级别的精细测量具有不可替代优势。

  对于单一测量需求，比如10m以内短链路诊断或仅仅关注光纤长度或损耗的用户，他们还推出两款简版设备。OCI-T测量长度10m，空间分辨率达20μm，能够以反射和透射两种模式对无源器件及硅光子器件插回损进行定量评估。OCI-L主要用于测量光纤长度，比如迈克尔逊干涉仪的延时或臂差值测量，精度可达0.1mm。

  昊衡科技不仅提供标准产品，还支持全方位软硬件定制、结果分析，解决测试难题。他们将秉持“技术感知世界”的使命，继续专注于先进光学测量与传感技术，砥砺前行，为广大客户提供更加精良的产品和更加完善的应用解决方案，为实现“中国智造”贡献一份力量。