Dimension：高性能免缠绕插回损测试方案

讯石光通讯网发布时间:2020/4/10 9:05:42 编者:iccsz

摘要：维度科技的高性能免缠绕插回损测试方案，采用自研的高性能光源和高精度光功率计，很好地解决了插回损测试中经常遇到的诸如测试效率低、测试范围小、需要缠绕、不能测量较短光纤等问题，具有前所未有的易用性和突出优势，是目前单芯、MPO光纤跳线、连接器及其他无源器件插回损性能测试的理想选择。

ICC讯 维度科技的高性能免缠绕插回损测试方案，采用自研的高性能光源和高精度光功率计，很好地解决了插回损测试中经常遇到的诸如测试效率低、测试范围小、需要缠绕、不能测量较短光纤等问题，具有前所未有的易用性和突出优势，是目前单芯、MPO光纤跳线、连接器及其他无源器件插回损性能测试的理想选择。

附：接口选型列表：

更多详情：http://www.dimension-tech.com

内容来自：深圳维度科技微信公众号
本文地址：http://www.iccsz.com//Site/CN/News/2020/04/10/20200410010936666567.htm 转载请保留文章出处
关键字: 维度科技测试方案
文章标题:Dimension：高性能免缠绕插回损测试方案

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