武汉普赛斯电子携抽屉式100G老化测试方案参展CIOE 2017

　　专业光电仪器仪表生产商---武汉普赛斯电子将出席2017年9月6日~9日第19届中国国际光电博览会，届时，武汉普赛斯电子技术有限公司将携全系列光芯片、光器件、光模块、光猫完整的测试设备与最新技术方案亮相本届光博会，如：抽屉式老化测试系统、100G误码仪、TO一体化老化监控系统、TO自动盘测系统、TO自动下料分拣系统、BAR条自动测试系统、EML器件完整解决方案、四工位模块测试系统、多路模块可靠性系统、LD失效分析系统等。

　　在今年的深圳光博会上，武汉普赛斯将重点展出抽屉式老化测试系统、100G误码仪、BAR条自动测试系统、EML器件生产测试系统，并于展台现场演示大部分重点产品。武汉普赛斯全体工作员工诚邀广大客户与朋友莅临展会现场进行交流与指导。

　　普赛斯展位号：1号馆1F09

　　参展时间：2017年9月6~9日

　　参展地点：深圳会展中心

　　武汉普赛斯CIOE 2017邀请函

　　武汉普赛斯CIOE 2017展位效果图

　　关于普赛斯电子

　　武汉普赛斯电子是“武汉·中国光谷”一家高科技企业，经过几年来的光器件产线测试仪器仪表的开发和完善，逐步完善了光通信、光纤传感、半导体等器件的生产测试方案。产品涵盖BAR条器件、LD-TO、PD-TO器件;TOSA、ROSA、BOSA等器件;光通信收发模块;以及器件的老化等方向。目的是为光电器件生产的客户提供完美的服务。

　　产品方案模拟现实应用环境，进行相应性能指标监测，具有综合性、完备性、稳定性、半自动化或自动化等特点，从而提高用户产线产品的生产效率、可靠性、稳定性、一致性。

　　公司创业团队由行业内著名专家及工程技术人员组成，同时汇集了一批资深的通信、电子技术和管理等专业人士的研发团队，在微弱信号检测、高速电路设计、抗干扰、自动化等技术领域具有较强的研发能力。公司的团队主持和参加了多项国家及省市科技研究课题，在光电检测与测试等方面取得了众多的技术成果，并获得了多项国家专利。

　　根据所掌握的核心技术，还开发了测量微弱电流以及半导体材料特性检测的系列仪器仪表设备，如皮安表、源表，以及半导体制冷器的相关测试系统等。

　　公司秉持不求最大，但求最精的企业精神，为客户提供最优质的产品与最贴心的服务。