安立通讯科技在线讲座 | 激光器相对强度噪声(RIN)测试方案简介 (3/27)

  ICC讯 AIGC的迅猛发展推动了更高速率数据传输需求，受此带动，光模块也迅速从200G/400G向800G/1.6T升级。更高的传输速率意味着在更大频率范围内（数十GHz）的噪声都会叠加在信号中，进一步降低了其信噪比。
  在模块级，我们可以利用光口采样示波器（如安立MP2110A）测量RINxOMA来评估其影响。但是该方案无法在前道工序将不良的光芯片/器件剔除，会导致良率的损失和成本的上升。安立公司针对性地推出了激光器RIN测试方案，以便在芯片和器件级就能提前分析和优化激光器/TOSA的噪声频谱。本次讲座会对安立公司RIN测试方案做一个深入浅出的讲解，希望听众能了解其价值并将该方案应用到研发和生产中去。

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  讲座时间：

  2024年3月27日（周三）
  【15:00—15:50 演讲环节】
  【15:50—16:00 问答环节】

听讲并填写问卷有机会获得精美礼品

（*图片内容仅供参考，礼品以实物为主）