莱塔思光学发布超快插损测试仪 1秒完成多通道插损测试

  ICC讯 插损的测试在多光纤连接器的制程中是必不可少的重要工序。目前市场上的多光纤插回损测试仪都是基于光开关，完成12通道的测试最少需要20秒以上的时间，慢的甚至需要1分钟才能完成，显著影响了生产效率。

  莱塔思光学针对多光纤连接器测试仪速度慢的问题，发明了一款超快测试仪，测试速度比现有的产品快10倍以上，大大提升了测试工序的效率。能做到不到1秒钟就完成12通道的插损测试。常用的通道数有12 、 16、 24 、32、48可供选择。

  此超快测试仪采用了全新的工作原理（已申请发明专利），不是基于光开关。在测试过程中光路完全不变化，因此重复测试时插损变化量绝对为零。这款测试仪可以作为校准设备，校准其他厂家的测试仪。

  在光源输出界面也一改传统的单光纤FC接口输出方式，采用自家独创的非接触MPO和预松弛MPO光纤连接器（MJC）这两款先进光纤连接器作为光源输出接口，能大大降低设备接口损坏问题，延长插拔寿命。输出输入面板非常简洁，操作连接也非常方便。

超快测试仪照片

  莱塔思光学是一家专注于光纤连接器产品研发、生产及销售的高科技企业，由留美博士创立。公司总部位于浙江宁波，在美国硅谷、深圳均设有全资子公司。

  莱塔思光学在世界光纤连接器行业有一系列影响深远的发明，居于技术领导地位。公司已经连续推出了多款颠覆性发明：非接触光纤连接器、预松弛MPO光纤连接器（MJC）、超小型MT插芯光纤连接器（MTC）、MT转MPO适配器。莱塔思光学立足光通讯市场，在光连接器、测试设备、技术服务等方面为客户提供领先的解决方案。

  此款超快测试仪可以接受预定。首台样机将2023深圳光博会（CIOE）现场展出和演示，光博会展位号是： 9B75。欢迎咨询洽谈。