keysight发布NB-IoT测试解决方案 涵盖全生命周期

　　ICCSZ讯  日前，是德科技发布了NB-IoT测试测量方案。其可为NB-IoT网络基础设施提供商、NB-IoT芯片开发、广大物联网器件设计和生产厂商、以及运营商和认证实验室，提供了涵盖从预研仿真、设计开发到一致性验证以及大规模生产的整个NB-IoT的产品生命周期的测量解决方案。

　　据是德科技无线终端运营商事业部(WDO)业务经理李欣介绍，是德科技已经将NB-IoT技术集成到了Keysight的一致性系统里，该系统按照3GPP NB-IoT测试规范，提供所有的认证测试用例。该一致性测试系统与Keysight LTE射频和RRM用例环境一样，已经拥有Keysight LTE一致性认证测试系统的用户，可以通过升级包轻松实现NB-IoT认证能力。2017年1月，Keysight TP 195窄带物联网射频验证测试系统是首个获得全球认证论坛(GCF)认证的测试平台。

　　对于NB-IoT基站厂家，是德科技 X系列信号发生器和信号分析仪以及LTE嵌入式测量软件，提供便捷的NB-IoT应用软件升级，就可以完成基站网络测的NB-IoT验证测试。

　　对于NB-IoT终端芯片和模块厂家，是德科技E7515A UXM综测仪可以帮助NB-IoT工程师在实验室中轻松重建真实场景，执行准确和可重复性的测量。

　　此外，TAP自动化测试软件平台所提供的测试流程序列及分析功能，为工程师提供数百个自动测试用例，从而极大缩短的用户的测试时间。同时，基于现有的Keysight E6640A非信令综测仪，是德科技为NB-IoT产线测试提供了低成本的产线测试方案，保证NB-IoT产品更快推向市场。

　　针对5G和航空航天及国防宽带技术，是德科技还发布了十款新PXIe仪器，包括任意波形发生器(AWG)和全能型PXI示波器。新款任意波形发生器具有三个高度同步的通道，可以精确调谐IQ波形并进行包络追踪。任意波形发生器和示波器均具有高达1GHz的带宽，能够轻松胜任复杂的基带IQ信号生成和分析。