中兴与Altair完成LTE IODT测试

C114讯 北京时间2月18日凌晨消息（蒋均牧）据国外媒体报道，中兴通讯与半导体厂商Altair在各自的产品上完成了广泛的系统级互操作性和互用性测试（IODT）。这一测试的成功证实了这两家公司的LTE产品的性能和成熟度，不久后双方将进行现网测试。 

        测试在中兴的LTE基站设备与Altair最近发布的FourGee LTE USB ExpressCard UE之间进行。 

        据C114了解，截至2009年底，中兴已累计申请了1700多件LTE/SAE专利，并将成为LTE/SAE标准基本专利的主要拥有者之一。

        据Altair的资料显示，FourGee LTE USB ExpressCard UE解决方案基于公司的FourGee-3100/6200宽带/RFIC LTE芯片，提供下行100Mbps和上行50Mbps的峰值速率，可在2700MHz频段间支持FDD/TDD LTE。