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LightconnectVOA通过5000小时寿命试验

摘要:MEMS器件和模块领先供应商Lightconnect 今天宣布他们的5000系列快速可变衰减器通过了5000小时的老化试验。这是Telcordia GR-1221-Core可靠性测试规范中最严格的一个


MEMS器件和模块领先供应商Lightconnect 今天宣布他们的5000系列快速可变衰减器通过了5000小时的老化试验。这是Telcordia GR-1221-Core可靠性测试规范中最严格的一个部分,可以充分展示器件的可靠性。今年年初的时候,Lightconnect已经宣布该系列产品通过了Telcordia GR-1209和GR-1221的测试,今天对于5000小时寿命试验的测试通过可以进一步加强客户对其产品的信心。Lightconnect的FVOA5000是一种小型化,低电压驱动的高性能光衰减器。Lightconnect公司CEO Sushil Shah表示影响可变衰减器可靠性最重要的因素是密封性,他们所有的产品的密封性能都在防湿防凝结方面具有突出的表现。

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文章标题:LightconnectVOA通过5000小时寿命试验
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