电科思仪：光器件WDL和PDL的波长快速扫描测试方案

  ICC讯 作为深耕行业多年的战略合作伙伴，曲尺技术与电科思仪的合作渊源可追溯至2015年。自合作伊始，曲尺技术便以专业第三方平台的角色，深度参与电科思仪全系列产品的市场推广与销售。凭借卓越的服务体系与精准的市场策略，在华中地区拥有较好的口碑和市场，成为行业内伙伴合作共赢的典范。目前曲尺技术在北京、上海、成都、长沙设有分公司，现为全国客户推介电科思仪光器件WDL和PDL的波长快速扫描测试方案。

  随着社会对流量的爆发式需求，光通信速率已经步入1TBit/s门槛，光通信系统中光器件的波长相关损耗(WDL)和偏振相关损耗(PDL)的影响不容忽视，如何降低测试成本和难度，增加测试速度和精度越来越成为测试人员关注的焦点。针对WDL和PDL的参数快速测试难题，“思仪科技”最新开发了波长快速扫描测试方案(图1)。

图1 波长快速扫描测试方案

  本方案结合电科思仪自主研发的6317A可调谐激光源、9951A光波测试平台，集成相关算法，优化了波长快速扫描测试。关于WDL的测试方法行业通用，但是PDL不同测试方法有不同适用场景(如下表所示)，综合各测试方法的特点，穆勒矩阵法更适合 PDL波长特性的测试，因此本方案采用穆勒矩阵法。

  实际的测试验证，“思仪科技”的波长快速扫描测试方案能够快速、准确地给出的WDL、PDL测试结果，该方案体积小，集成度高，测试仪器由多台精简到两台，并可根据测试对象、测试需求扩展光衰减器、光开关等模块，降低了测试成本50%以上。方案最小采样时间可以达到10μs，准确度(典型值)可以高达±0.02dB(测试效果图2所示)。

图2 波长快速扫描测试软件(可定制)

  电科思仪开发的波长扫描快速测试方案可以快速完成光器件的WDL和PDL测试，可光广泛应用于波分复用模块(DWDM、CWDM)、波长选择开关(WSS)和集成光芯片的研发、生产和测试，同时该方案编程控制方便，可根据实际需求定制软件并集成，实现一机灵活多用。波长快速扫描测试方案指标如下：

  工作波长：1480nm～1610nm

  扫描速度：1nm/s~200nm/s

  最小采样时间：10μs

  PDL准确度(典型值)：±(0.02+3% PDL) dB

  PDL重复性(典型值) ：±0.01dB

  WDL准确度(典型值) ：±0.02dB

  WDL重复性(典型值) ：±0.01dB