塔思光学针发明一款超快测试仪，针对多光纤连接器测试仪速度慢的问题，提升了测试工序的效率

高分辨率光学链路诊断仪(OCI)基于光频域反射技术(OFDR)，能轻松测试出光纤链路损耗情况。OFDR测试插损方式为，依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异，其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。

昊衡科技自主研发以OFDR为核心的高分辨光学链路诊断仪OCI，具有超高空间分辨率，能精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm，广泛应用于光器件、光模块、硅光芯片等内部链路反射情况测量，以下为一组硅发射芯片测量。

Santec专注在光源、可调谐技术、偏振控制器、滤波器等高性能测试的研发和创新，公司针对无源器件、波分器件IL和PDL测试需求，深入到光通讯产业链为不同用户提供提供业界最先进的光测试设备和服务。

无限光深耕自由空间隔离器产品领域多年，其推出的高品质自由空间隔离器具有高隔离度、低插损、尺寸紧凑、封装方式多样等特点，广泛应用于光纤通信领域、应用于激光器封装、光收发模块中，并发挥着重要的作用。

昊衡科技发布的OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。

OFDR插损测量原理?，光频域反射技术(OFDR)可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线，利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。

昊衡科技OCI系列仪器主要用于无源光器件、硅光芯片、光模块、平面光波导等光学链路损耗、色散、偏振、延时、光谱等参数测试。产品主要包括OCI-1500/1300高分辨光学链路诊断仪，OCI-T光学器件测量仪和OCI-L高精度光纤长度测量仪，以及可测量传输向插损、偏振和色散的新产品OCI-V光矢量分析系统。

作为专业的Receptacle厂商，深圳市金同利光电技术有限公司经过多年的努力和技术沉淀，近日全新推出应用于XGS-PON光模块的一体化准直适配器，为接入网的持续发展贡献力量。全新的一体化准直适配器采用先进工艺，实现高精度自动耦合设备批量生产点精度＜0.5°；并且在性能方面具有多项优点：点精度＜0.5°（0~360°测试），光斑直径±20nm，工作距离按客户要求，光斑椭圆＞0.93，插损四方向≤0.2dB，回损≥40dB，等超高标准。

起浪光纤(GROWSFIBER)的插片式CWDM/MWDM/LWDM OMUX工业级波分模块已实现批量生产，产品具有低插损和低中心波长漂移等多项优异特性，产品可靠性完全适用于5G前传光网络。

在光无源器件特别是跳线、连接器性能的测试中，插损和回损值是至关重要的指标，目前的插回损仪对插损的测试已经非常成熟，但回损测试经常因为数据复测波动较大，在回损值小于-60dB时，很难确保其测试值的精准度。