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以往光频域反射仪(OFDR)只有国外少数几家公司拥有高端仪器,细分市场也被垄断,国内需求只能依靠国外进口。昊衡科技自主研发了系列产品,其核心技术具有原创性和自主知识产权,实现OFDR技术国产商用化,解决了这一新技术的痛点问题。
昊衡科技发布的OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。
OFDR插损测量原理?,光频域反射技术(OFDR)可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线,利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。
昊衡科技提出一种测量波分复用器通道光纤长度的方法,通过使用OFDR技术测出高反射位置的光谱信息来判断其对应哪个波分复用器通道,可以实现高精度地测量各个通道的长度。
昊衡科技的光矢量分析系统(OCI-V)可以用来测量偏振相关损耗PDL、偏振模色散PMD、群延时GD、色散CD等光学参数,测量精度可达皮秒(ps)量级。
昊衡科技OCI系列仪器主要用于无源光器件、硅光芯片、光模块、平面光波导等光学链路损耗、色散、偏振、延时、光谱等参数测试。产品主要包括OCI-1500/1300高分辨光学链路诊断仪,OCI-T光学器件测量仪和OCI-L高精度光纤长度测量仪,以及可测量传输向插损、偏振和色散的新产品OCI-V光矢量分析系统。
昊衡科技专注于高端光学测量与传感测试系统研发和解决方案开发,拥有OFDR核心技术,并成功推出OCI通信系列、OSI传感系列等多款OFDR商用产品。近期昊衡科技发布重磅新品---OCI-V光学矢量分析系统。
昊衡科技推出OSI分布式光纤传感教学解决方案,其旨在于通过教学实训来推广和普及高分辨、高精度OFDR分布式光纤传感技术,为光纤传感领域人才培养贡献一份力。
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