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昊衡科技专注于高端光学测量与传感测试系统研发和解决方案开发,拥有OFDR核心技术,并成功推出国产多功能光学矢量分析系统--OCI-V。
随着高速光通信发展,光器件种类多、迭代快,对测量仪要求更高。而在新兴平面光波导和硅光芯片领域,其对仪表测量精确性、稳定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑战。昊衡科技专注于高端光学测量与传感测试系统研发和解决方案开发,拥有OFDR核心技术,并成功推出国产多功能光学矢量分析系统--OCI-V。
在实际使用过程中光纤不可避免地会被弯曲,当弯曲半径较小时,光的传输途径会发生相应的改变,在弯曲处有一部分光会从基模中泄露,渗透到包层或穿过包层辐射模向外传输而引起光功率减小,从而造成弯曲损耗。借助于光矢量分析系统(OCI-V)能够测试光器件在不同波长下的损耗特点,对光纤进行不同弯曲状态下的损耗测试。
使用OCI-V测试偏振模色散的方法可以计算出法拉第旋光镜的偏差角度,其计算FRM偏差角度的精度可达±0.12°,这种方法能十分快速精准地评估FRM的质量。当然使用这种方法也能评估带有FRM的光纤系统,是否因FRM偏差角而带来的PMD,如迈克尔逊干涉仪、环形激光器、光调制器等光学系统,为这些系统稳定运行提供保障。
昊衡科技致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠的测试解决方案,推出了一系列光学测量测试系统。其中高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V)备受大家关注,为了便于大家选择适合自己的产品,昊衡科技将进行深度剖析,探究它们究竟有何不同之处。
昊衡科技发布的OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。
昊衡科技的光矢量分析系统(OCI-V)可以用来测量偏振相关损耗PDL、偏振模色散PMD、群延时GD、色散CD等光学参数,测量精度可达皮秒(ps)量级。
昊衡科技OCI系列仪器主要用于无源光器件、硅光芯片、光模块、平面光波导等光学链路损耗、色散、偏振、延时、光谱等参数测试。产品主要包括OCI-1500/1300高分辨光学链路诊断仪,OCI-T光学器件测量仪和OCI-L高精度光纤长度测量仪,以及可测量传输向插损、偏振和色散的新产品OCI-V光矢量分析系统
昊衡科技专注于高端光学测量与传感测试系统研发和解决方案开发,拥有OFDR核心技术,并成功推出OCI通信系列、OSI传感系列等多款OFDR商用产品。近期昊衡科技发布重磅新品---OCI-V光学矢量分析系统
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