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在实际使用过程中光纤不可避免地会被弯曲,当弯曲半径较小时,光的传输途径会发生相应的改变,在弯曲处有一部分光会从基模中泄露,渗透到包层或穿过包层辐射模向外传输而引起光功率减小,从而造成弯曲损耗。借助于光矢量分析系统(OCI-V)能够测试光器件在不同波长下的损耗特点,对光纤进行不同弯曲状态下的损耗测试。
使用OCI-V测试偏振模色散的方法可以计算出法拉第旋光镜的偏差角度,其计算FRM偏差角度的精度可达±0.12°,这种方法能十分快速精准地评估FRM的质量。当然使用这种方法也能评估带有FRM的光纤系统,是否因FRM偏差角而带来的PMD,如迈克尔逊干涉仪、环形激光器、光调制器等光学系统,为这些系统稳定运行提供保障。
昊衡科技发布的OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。
昊衡科技的光矢量分析系统(OCI-V)可以用来测量偏振相关损耗PDL、偏振模色散PMD、群延时GD、色散CD等光学参数,测量精度可达皮秒(ps)量级。
昊衡科技OCI系列仪器主要用于无源光器件、硅光芯片、光模块、平面光波导等光学链路损耗、色散、偏振、延时、光谱等参数测试。产品主要包括OCI-1500/1300高分辨光学链路诊断仪,OCI-T光学器件测量仪和OCI-L高精度光纤长度测量仪,以及可测量传输向插损、偏振和色散的新产品OCI-V光矢量分析系统
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