ICC讯 9月9日至11日,第27届中国国际光电博览会(CIOE 2026)将在深圳国际会展中心(宝安新馆)盛大举办。作为全球光电行业的风向标盛会,本届展会汇聚全球30余个国家和地区超4000家顶尖光电企业。展会还将与IICIE国际集成电路创新博览会、elexcon深圳国际电子展暨嵌入式展同期举办,形成“三展联动”格局,打造32万平方米超大规模行业盛会,预计汇聚超5000家参展企业、吸引逾24万名专业观众。
高性能光纤连接及测试解决方案提供商——启星互联(QSTAR-LINK),将携两大方案矩阵亮相本届展会,展位号12C700/12C701。
方案一:光模块测试系列

随着800G光模块规模量产、1.6T时代加速到来,光模块研发与量产测试对连接可靠性、插拔耐久性和测试精度提出了前所未有的要求。启星互联聚焦光模块测试场景,以“精准测试”为核心,围绕端口物理防护与非接触光学连接两大技术路径,构建了光模块端口“外延”的完整测试方案体系。
外延盾(OES)系列——端口物理防护
采用“间隙式物理隔离”的设计理念,依托创新的端口外延设计,我们将光模块精密测试端口与测试设备实现物理隔离,成功把插拔磨损、粉尘污染等各类损耗转移到低成本、可快速更换的防护部件上。该方案投入市场应用后,我们结合客户反馈完成了产品2.0代推拉尾结构的升级。
MPO外延盾2.0:面向MPO接口高速光模块测试场景,可将端口插拔寿命提升3-5倍,端面损伤比例降低至0.5%以下。深度覆盖400G/800G/1.6T高速光模块量产测试场景,目前已通过多家行业头部客户验证,并获得客户稳定批量采购。产品在一代的基础上升级了推拉尾结构,插拔更顺畅,性能更稳定,可有效提升生产效率。
LC外延盾2.0:采用推拉尾结构,专为LC接口高速光模块、单芯光器件测试场景量身打造,可将LC端口插拔寿命提升4倍以上,兼容10G/25G/100G/400G LC接口光模块及光收发器等产品,填补了单芯端口防护的市场空白。
非接触测试线系列——全方位战略方向

在外延盾的端口外延思路之外,启星互联紧跟市场端口应用的变化趋势,联合多家企业推动测试线产品多元化发展。该方案采用非接触式端面设计,从根源上杜绝传统接触式连接器在高频插拔中的端面磨损与污染问题,是公司在光模块测试领域的前瞻性战略布局。
非接触ELSFP测试线:面向NPO/CPO(共封装光学)外置激光器应用场景,基于OIF ELSFP标准,支持盲插光电连接,为外部激光器与光模块之间的连续波光传输提供高可靠测试连接。
非接触MMC测试线:MMC作为新一代VSFF超小型多芯连接器,端口密度可达传统MPO的3倍,适配交换机128端口及以上的高密度测试需求。
非接触SN-MT测试线:融合SN双工连接器的小型化优势与MT多芯插芯的集成能力,适用于高速光模块的批量老化与性能筛选测试。
方案二:高密度光互联——FA、保偏、多芯光纤组件

面向AI集群、数据中心、高速光模块内部互连等场景对带宽密度与传输容量的持续攀升需求,启星互联推出高密度光互联方案,涵盖光纤阵列(FA)、保偏光纤组件及多芯光纤组件三大产品线。
二维光纤阵列(2D FA):高精度V槽阵列设计,支持超细间距光纤排布,具备优异的位置精度与插损一致性,广泛应用于光模块光引擎、WDM器件及硅光耦合场景。
保偏光纤组件:采用高消光比保偏光纤,适配相干光模块、光纤陀螺、传感测量等高精度应用场景,确保偏振态稳定传输,满足严苛环境下的相位保持需求。
多芯光纤组件:基于空间复用技术,单根光纤集成多独立纤芯,传输容量提升3-4倍,为数据中心、AI集群、高速光模块提供高密度、大容量、低损耗的光互连解决方案。
以测试方案为锚点,以高密度互连为延伸
从光模块测试端口防护、非接触光学连接到高密度光互连组件,启星互联已形成“光模块测试+高密度光互联”两大方案齐头并进的完整布局,全面覆盖光模块从研发验证、量产测试到系统互连的全链路需求。
诚邀莅临,共话光联未来
启星互联(2019年成立)专注光模块测试领域,提供高性能、高可靠性的专业测试解决方案。核心团队拥有20年以上光通信行业经验,深谙光模块生产工艺、测试标准与应用需求。公司持续聚焦测试技术创新,以稳定性能、严谨测试体系和成熟方案,助力客户提升产品品质与生产效率。依托先进的制造验证设备、优质供应链及完善的交付体系,确保产品与服务的可靠保障。
2026年9月9日至11日,启星互联诚邀各界朋友莅临深圳国际会展中心(宝安新馆)12C700/12C701展位,现场体验两大方案矩阵的产品性能,洽谈合作。
用精准测试方案,赋能光模块极致性能!
展会信息
展会名称:第27届中国国际光电博览会(CIOE 2026)
时间:2026年9月9日—11日
地点:深圳国际会展中心(宝安新馆)
启星互联展位:12C700/12C701