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维度科技高性能缠绕式插回损测试方案

摘要:高性能缠绕式插回损测试方案是维度科技全系列插回损测试方案之一。回损测试精度高,测量范围大,最低能够实现-75dB的回波损耗探测,双波长可以自动切换,实时测量,实时显示。

  ICC讯 高性能缠绕式插回损测试方案是维度科技全系列插回损测试方案之一。

  它集成高稳定光源和高精度光功率计,采用缠绕式方案实现回损测试。回损测试精度高,测量范围大,最低能够实现-75dB的回波损耗探测,双波长可以自动切换,实时测量,实时显示。配置了丰富可互换,高可靠性探测器适配器接头,使用方便,优化设计的积分球,兼容MPO连接器和双联LC连接器,一次测试无需重复插拔。快速而精准的测量性能,能有效提升生产效率和品质管控。

  更多咨询:www.dimension-tech.com

内容来自:深圳维度科技微信公众号
本文地址:http://www.iccsz.com//Site/CN/News/2021/06/25/20210625023356645827.htm 转载请保留文章出处
关键字: 维度 插回损 测试
文章标题:维度科技高性能缠绕式插回损测试方案
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