威谊联手杰普特推出偏振测试系统

 
 　　4/3/2006，领先的陶瓷插芯和光纤跳线制造商深圳威谊光通技术有限公司宣布，他们在新品开发上又有了新的突破。威谊光通与杰普特科技，在最基础的数学算法基础上，联手研制出光纤用PDL测试仪，PMD测试仪，偏振参数分析仪等一系列具有自主知识产权的新产品。
    偏振相关损耗测量仪（PDLM）用于测量光纤系统和光纤器件的偏振相关损耗。本产品集成了5种方法对偏振相关损耗进行测量，用户可以在软件界面中进行选择，也可以选择自动模式让测量系统自动比较和选择优化的测量方法。这些测量方法包括了随机输入偏振态方法，基于琼斯和密勒矩阵分析的四偏振态输入、三偏振态输入和两偏振态输入方法，以及基于偏振度测量的准单色非偏振光输入方法。这些方法各有不同的优点和缺点，综合应用可以实现高速、高精度的测量。
    偏振模色散测量仪(PMDM)用于测量光纤系统和光纤器件的偏振模色散。本产品集成了8种方法对偏振模色散（矢量）进行测量，用户可以在软件界面中进行选择，也可以选择自动模式让测量系统自动比较和选择优化的测量方法。这些测量方法包括了适用于待测系统没有偏振相关损耗\\增益的情况的邦加球法、C.D.Poole方法、密勒矩阵法、虚拟密勒矩阵法；以及适用于待测系统有偏振相关损耗\\增益的情况的琼斯矩阵本征分析法、扩展的邦加球法、复平面法、扩展密勒矩阵法。这些方法各有不同的优点和缺点，综合应用可以实现高速、高精度的测量，提供一阶和二阶偏振模色散矢量的信息。
　　偏振参数分析仪(PPA)用于测量光纤系统和光纤器件的偏振特性，包括消偏振特性、双折射特性、偏振相关损耗和增益以及这些参数的随光频的变化，也可用于进行对系统的偏振模色散特性进行最一般情况下的分析。PPA通过对密勒矩阵的测量和分解实现上述功能。系统自动选择最优的测量方法和参数进行分析。
    这一系列的新产品将于6月份面向市场。这将打破国外公司 对该类产品的垄断局面，为我国在更高端的产品开发领域作出贡献