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LTE测试技术挑战,共创4G时代美好未来

摘要:2013年12月27日下午,第九届IMCA 国际仪器仪表与测控自动化高峰论坛暨“2013 TD-LTE测量测试核心技术大会”,在深圳马可孛罗好日子酒店举办并圆满成功!迎接4G时代LET测量测试带来的变革和挑战,LTE将为测量测试产业链带来前所未有的发展机遇。此届测量测试业界翘楚聚焦的2013 TD-LTE测量测试核心技术大会,以“4G时代,共创美好未来”为主题成功打造了一个高水准的高峰论坛。

内容来自:讯石光通讯咨询网
本文地址:http://www.iccsz.com//Site/CN/News/2014/01/08/20140108033910433800.htm 转载请保留文章出处
关键字: LTE 测试设备
文章标题:LTE测试技术挑战,共创4G时代美好未来
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