横河Meters & Instruments上市提高光学性能光谱分析仪

     横河Meters & Instruments（总部：东京都立川市）2010年8月25日上市了在开发制造光通信设备及光学部件时测量光波分布的“光谱分析仪 AQ6370C”。该产品为“光谱分析仪AQ6370B”的后续机型，杂散光抑制比（对混入测量中的无用光可抑制多少的指标）达到了76dB，这是业界首次公示这一保证值。

　　据横河介绍，精度较高的测量所花费的时间较原机型得到了改善，因此可提高开发时及生产线的测量作业效率，以及削减成本。测量精度方面，按照波长划分测量光的单色仪（色散分光计）提高了性能，实现了0.02nm的波长分辨率及73dB的动态范围。通过分离接近测量对象光的光学噪声，可准确测量光谱。另外，测量时间方面，可在0.2秒内测量100nm的波长间隔。该产品可用于开发制造光收发器及光放大器等光学部件时的光学特性试验及产品评测。

　　备有标准款及高性能款2种型号，标准款的价格为334万日元起（不含税），高性能款为364万日元起（不含税）。目标是2010年度包括海外市场在内销售300台。