Multilane针对高速wafer ATE测试方案

  ICC讯 MultiLane总部位于黎巴嫩，创立于2006年。MultiLane是数据通信领域高速接口测试和数据中心测试方案的提供商。产品广泛应用于半导体、数通等产品验证测试。作为高速测试行业的领导者，MultiLane将其领先的误码仪和数字采样示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 测试机台，以支持更高速率芯片的测试，高度集成的BERT和DSO提供32个通道的测试能力，最高可达112 Gbps PAM4和35GHz输入带宽。利用这一独特的集成方案，可以进行数字和模拟FT以及CP 测试,包括serdes测试、发射机、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和无源高速设备。以太网、HDMI、USB 3/4、PCIe5/6、光纤通道等测试都可以支持。BERT 和示波器还可用于 IC 验证、检定和生产测试。

  其中针对TIA的CP和FT测试方案，目前已经成功运用于全球领先的TIA芯片制造商产线测试，产线普及率遍及北美，新加坡，马来西亚，台湾。国内也已经有领先的TIA芯片厂商开始引入此方案进行小批量生产测试, ATE自动化测试方案，完美解决了TIA CP测试中探测的难点问题。

  Multilane ATE测试系统主要由Family Board, HSIO Card Cage, ML Instrument Cassettes ，DUT Loadboard 或Probe Card四个部分组成，Family Board 兼容CTH, STH Test Head，并引出93000本身的测试资源。HSIO Card Cage让Pogo Pin通过到达DUT， ML Instrument Cassettes 是高速BERT 或DSO 或AWG仪器，是这套系统的关键。DUT  Board根据是FT 或 CP的应用 在Docking方向及细节上稍有不同。Multilane ATE Solution 能够分别对serdes Tx 或 Rx进行测试，快速定位问题。具有覆盖范围广，测试时效高，稳定性高等特点。软件方面 ML Instrument 提供API接口，V93000 Smartest 可以对Instrument进行设置，读取结果等操作。

  为更好地服务国内客户，2023年MultiLane Inc 与上海泽丰半导体科技有限公司签署了《战略合作框架协议》。双方本着互惠互利、实现双赢的目标，在平等自愿的前提下就高速ATE测试方案达成战略合作。

  DSO 有多种内建的 filters 如 Bessel-Thomson, CTLE, DFE, FFE等，并且可以De-embed, embed 探针及fixture PCB trace等的S参数。能够对信号路径的每个部分分别进行精准的Calibration控制。搭配泽丰性能优异的Probe Card。是wafer级 characterization 及快速产测的理想方案。

  关于MultiLane：

  MultiLane是数据通信领域高速接口测试和数据中心测试方案的提供商。覆盖到早期的10 G到前沿的800 G以太网，主要产品包括误码仪、任意波形发生器(AWG)、光/电口采样示波器、时域反射计（TDR）、QSFP-DD, OSFP等其他各种封装形式的主机、模块一致性测试夹具、环回模块、适配器与分析仪等。产品广泛应用于半导体、DAC铜缆、AOC光缆、有源线缆、光模块、和交换机产品验证测试。我们的创新步伐紧跟行业快速变化的需求。

  同时为帮助行业客户加速产品开发部署进程，Multilane也提供一致性测试服务，信号完整性设计服务等，另外Multilane的高速ATE 模组搭配ATE测试机台，已广泛应用于wafter级的全自动化测试，了解更多信息请访问Multilane官网 www.multilaneinc.com

  或咨询中国区销售经理：林瑶  13621907413