2019 CIOE | 杭州维勘FA光纤阵列干涉仪、FA光纤阵列检测仪亮相CIOE

  ICCSZ讯 9月4-7日，第21届中国国际光电博览会在深圳会展中心圆满举办。光器件测试设备商、光学检测专家杭州维勘科技股份有限公司(简称杭州维勘)隆重展出了FA光纤阵列干涉仪、FA光纤阵列检测仪等高精度光学测试设备，跟光通信连接器件企业和行业专家展开广泛的交流合作。

杭州维勘光学检测仪器系列

  在本届CIOE光博会上，杭州维勘隆重展出了新产品WKFI-FA(FA光纤阵列干涉仪)，这是一款测量FA光纤阵列端面3D指标的专用仪器，采用非接触式白光和红光干涉原理，选用高端光学显微系统、超清晰的高速相机，测量具有很高的重复性和复现性。夹具采用可快速更换的方案，可以适应客户不同规格产品的测量需求。

  据介绍，它可以测量2.0×1.0、2.0×2.0、3.5×1.2等多种规格FA光纤阵列，可以根据客户要求定制夹具。自动校准、自动对焦、自动识别端面面型，先进高效的自动对焦模块，自动识别端面面型并从最佳位置开始扫描，无需任何硬件调整即可完成测量。它拥有完美的3D图像，通过拖动鼠标可轻易掌握任意位置的光纤剖面及3D图像，方便用户直观了解产品端面研磨状况并进行工艺改进。稳定且高速的数据传输，紧固式的USB3.0接口，极大地提高了测量的稳定性及抗震性，在任何情况下都拥有稳定而高速的数据传输。

  杭州维勘的另一款新产品是WKVG(FA光纤阵列检测仪)，这是一款专门用于测量光纤通信部分的V槽板和光纤阵列的仪器设备，有助于光通信部件的高精度生产，它可以使连接损耗降到最低，并保持相同形状的高密度。

  基于超大的工作台面，最大可以支持对80mm×80mm的裸基板进行检测。它拥有丰富的夹具配置，平台前端使用专用夹具对产品进行夹持，通过更换夹具即可提供对各种成品、半成品、非标品的夹持，Z轴平台可根据不同样品厚度调整高度，确保最佳的光照成像。还有精密的自动控制，可以搭载精密自动对焦、自动位移系统，实现高精度、高可靠的测量。它还基于图像分析的测量，通过机器视觉对图像进行X、Y轴距离的误差累积分析，先进的算法可以补偿机械平台移动造成的误差。

杭州维勘与讯石编辑合影

  杭州维勘科技股份有限公司（WEKON）

  维勘科技成立于2012年，位于杭州市滨江区海外高层次人才创新创业基地，是“国家高新技术企业”、“杭州市青蓝计划企业”、“杭州市5050计划企业”。

  维勘科技由著名海归博士带头，联合浙江大学、中国计量大学，打造高素质、高水平的研发团队，引领行业快速发展。在视觉检测、图像算法、软件编程、机械设计、自动化领域积累了丰富经验，目前已取得多项发明专利和实用新型专利。

  维勘科技历经多年的发展，已经制造出多款精密检测设备。“MT插芯端面研磨机、FA光纤阵列检测仪、FA光纤阵列端面3D干涉仪、单芯光纤连接器端面3D干涉仪、MPO多芯光纤连接器端面3D干涉仪、MPO带纤线序检测仪、光纤端面缺陷检测仪、陶瓷插芯内径分拣机”等仪器已服务众多企业用户。产品通过国家权威机构认证并获得业内客户的高度认可，部分产品已远销国外市场。

  公司官网：www.wekontech.com

  微信公众号：维勘科技，

  咨询热线：0571-89987791 / 89987795 / 85808821，15397087012 汪经理