TIA生产测试解决方案—Multilane携手Advantest打造高速解决方案

  ICC讯 作为高速测试行业的领导者,MultiLane将其领先的误码仪和数字采样示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 测试机台，扩展了ATE机台数字和模拟验证，以及产线测试性能。

  高度集成的BERT和DSO提供32个通道的测试能力，最高可达112 Gbps PAM4和50 GHz输入带宽。

  利用这一独特的集成方案，MultiLane的设备可以进行数字和模拟FT以及CP 测试,包括serdes测试、发射机、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和无源高速设备。以太网、HDMI 2、USB 3/4、PCIe 5/6、光纤通道等测试都可以支持。BERT 和示波器还可用于 IC 验证、检定和生产测试。

  其中针对TIA的CP和FT测试方案，目前已经成功运用于全球领先的TIA芯片制造商产线测试，产线普及率遍及北美，新加坡，马来西亚，台湾。国内也已经有领先的TIA芯片厂商开始引入此方案进行小批量生产测试, ATE自动化测试方案，完美解决了TIA CP测试中探测的难点问题。

  Advantest携手Multilane提供了一体化平台方案，以确保两家公司设备的最优性能。Bert和DSO直接安装在客户load board的下面，开孔的测试延展支架叫做Twinning Frame。由于十分靠近load board, Bert/DSO和DUT之间可以以非常短的距离进行信号传输，确保了信号完整性和准确性。

  上图所示为Multilane ATE测试方案的总揽，multilane设备的信号通过连接器连接到芯片上，并通过发送PRBS信号来检测芯片的接受和发送信号的能力。

  主要性能：

  ·  32条lane同步测试

  ·  支持NRZ&PAM4信号

  ·  高度集成和固定的RF线缆

  ·  支持V93000 Smartest软件API

  ·  Multilane提供分析软件

  ·  直接与V93000集成

  ·  支持wafer和package测试

  ·  可充当实验室设备以及ATE测试设备，移动方便

  ·  直接dock到V93000上面，提供了快速和可靠的测试，以及支持各种类型的handler和wafer prober。

  数字采样示波器介绍

  ·  50 GHz 输入带宽

  ·  使用优化的快速采样和 DSP硬件，以及最智能的软件

  ·  丰富的内置 DSP 滤波器，例如贝塞尔-汤姆森、CTLE、DFE、FFE和组件仿真

  ·  去嵌工具用于补偿高速信号中的插入损耗

  ·  内置标准模板

  ·  一套完整的 API 和多个 SmarTest示例代码以加快集成速度。

  数字示波器产生眼图，可以快速清晰的查看信号的完整性

  BERT（误码仪）介绍（根据不同模块而定）

  ·  4-Lane BERT最高支持 56 GBd PAM4/NRZ

  ·  高速时钟输出最高 7 GHz

  ·  真实 FEC 和格雷码

  ·  PRBS7， 9， 13， 15， 23， 31， 58

  ·  PRBS13Q， 31Q

  ·  最高高达1800mVppd的电压摆幅

  ·  通过算法生成pattern

  ·  自定义pattern：64bit可以重复至 255 次，并根据需要重复

  误码仪可以抓取histogram，也可以做误码率分析，部分型号支持抖动注入。

  Multilane将这套设备集成到V93000中，使得V93000也具备了进行超高速信号的测试功能。并且可以在V93000的集成软件中控制multilane的设备，相对于传统设备一体化与自动化集成度更高,保证了最优的信号完整性，是高速信号生产测试的完美解决方案。

  详情请咨询Multilane中国区销售经理：林瑶，13621907413，alin@multilaneinc.com 欢迎致电！