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测试案例 | VIAVI力助中国电信开拓创新,实现G.654E长距离高速传输型光纤测试

摘要:针对本次“G.654.E OTDR测试方案”、1550nm波长结果分析、1625nm波长结果分析、熔接增益及双向测试、智能真双向测试和G.654.E干线色散测试方案的全面测试过程和测试数据,请点击获取《G.654E长距离高速传输型光纤测试案例分享》报告。

  ICC讯 2021年9月22日,中国电信建成业界首条全G.654E陆地干线光缆,并完成了业界首次基于G.654E光缆的400Gb/s超长距现网传输试验。

  中国电信在国内率先建成该干线光缆,推动了G.654E产业链的成熟,对干线光缆网从G.652D迈入G.654E新型光纤时代具有引领作用,对建设绿色低碳全光网络具有积极且重要的示范意义。

400G+需求使G.654.E

成为超高传输技术光纤主流

  随着5G时代的数据流量不断增长,承载网的数据传输和带宽压力不断增加,骨干网传输速率将从100G不断向200G/400G等更高速率升级。超100G网络在整体市场份额中将超过60%,并且400G+将成为超100G网络的主流应用。从骨干网层面来看,单波400G即将开启,并进入长周期。

  因此,提前部署支持200G、400G系统的光纤光缆产品是建设高速信息网络的基础。但是,现网中使用的G.652光纤,已经无法满足未来光传输网络超高速率、超大容量、超长距离的传输需要。

  将视线回落到光纤技术的发展,其正呈现出三大趋势:低/超低损耗光纤、大有效面积光纤、大有效面积和低/超低损耗光纤。

  国内厂商在选择技术路径时,基本都选择了将大有效面积和低/超低损耗结合,而同时满足超低损耗和大有效面积两大特性的超低损耗大有效面积G.654.E光纤是400G/1T系统的最佳选择。

G.654.E光缆的熔接机熔接及测试需求明显提升

  G.654.E光纤更具优势,但在部署过程的工程方面却有不少困难,主要反馈熔接一次成功率低,导致光缆接续时间长。通过分析,主要原因来自于:

  1、环境因素,工程反映不同季节熔接成功率差异大,车内施工有利于改善质量;

  2、装备原因,熔接机自动接续模式下,熔接损耗缺乏稳定性。

  G.654.E较宽泛的模场直径——不同厂家纤芯互熔产生较大接续损耗(高达0.2dB)。

  G.654.E的大有效面积——某些熔接机无法准确识别纤芯、包层,需要设为包层对准、甚至多模模式才能熔接,对熔接损耗有潜在影响。

  G.652.D和G.654.E在折射率剖面设计、模场直径差异明显——二者互熔存在熔接损耗过大、反射明显。

  也正是因为G.654.E光缆的熔接机熔接及测试需求明显提升,更加精准OTDR双向测试验收成为必要选择之一。

  熔接损耗数据:G.654和G.652熔接,比同种光纤熔接时大0.081dB(统计数据)

  法兰损耗数据:G.654和G.652之间法兰链接耗损,比同种光纤法兰连接时大0.102dB(统计数据)

  双向测试可消除光纤增益影响,测试熔接点实际损耗,科学辅助工程验收

 

  同时,测试过程中VIAVI独家的“自动真双向测试”还提供了更优的测试效果:更全面的光纤指标及联通测试;高效自动化测试;测试实时给出双向测试结果,方便即时处理故障并查找问题。

  【VIAVI光纤测试产品组合】

  针对本次“G.654.E OTDR测试方案”、1550nm波长结果分析、1625nm波长结果分析、熔接增益及双向测试、智能真双向测试和G.654.E干线色散测试方案的全面测试过程和测试数据,请点击获取《G.654E长距离高速传输型光纤测试案例分享》报告。

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