是德科技5500SPM升级方案—start of a new generation

　　ICCSZ讯  随着是德科技新一代扫描探针显微镜控制器的研发推出，升级原有5500SPM系统将带来全新更为先进高效的扫描控制方式及便捷的软件控制界面。

　　系统升级后的优势如下：

　　* 基于FPGA处理单元的高带宽全数字化新型控制器(FPGA@200MHz)

　　* 全新NanoNavigator 扫描控制软件，直观简洁的流程式控制界面，对于各种成像模式系统都预先集成运行模板，用户使用时调用相应模板即可，包括专家级操作模式

　　* 全新的Quick Sense成像模式，对AFM成像力达到皮牛级精准控制，您可在成像的同时同步获取表面粘滞力分布图、接触刚度分布图、压入深度分布图、弹性模量分布图及电流分布图等力学电学信息，并且成像速度及分辨率未受到任何影响

　　* AutoDrive功能自动设置扫描成像参数

　　* 成像速度较常规有显著提高

　　* 一整套基于单次扫描的表面电学分析成像模式，包括EFM、KFM、PFM等

　　* 完整的原位电化学控制功能

　　力学性能表征 - QuickSense

　　40um扫描，256 x256数据采集(成像时长约8分钟);

　　其中粘滞力图中蓝色区域代表高粘滞力，红色表示中等粘滞力，白色表示低粘滞力;

　　刚度图中蓝色区域代表高模量，红色代表低模量。

　　电学性能表征 - KFM

SRAM样品原位单次扫描表面电势成像，

AFM 形貌(A)，相位 (B) ，表面电势(C), dC/dZ (D)

　　扫描范围: 15 µm x 15 µm。