FA耦合面测量

  ICC讯 45°FA利用端面全反射使光路90°转角与VCSEL或者PD耦合，这种方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工艺有较大难度，工艺制造成本高，生产良率不高。

  光纤转90°FA通常与硅光芯片中的光栅进行耦合，不过直接对准耦合，会存在一定的角度失配，尽管国内厂商经过这几年的努力与克服，已有不少厂家能够批量制造提高良率，但FA耦合面检测一直是通信行业所关注的热点话题。

OLI光纤微裂纹检测仪

  FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模块、硅光芯片等等，这些器件级的检测对设备要求非常高。OLI光纤微裂纹检测仪，专门针对这种微小尺寸的检测，空间分辨率高达10微米，能实现芯片内部结构可视化。

OLI测量FA耦合面

  多芯FA耦合面测量，测试结果显示该耦合位置回损为-62dB，耦合情况良好。

  昊衡科技推出的OLI光纤微裂纹检测仪，能精准定位器件内部断点、微损伤点、耦合面以及链路连接点，以亚毫米级别分辨率探测光学原件内部，广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是一家实现OFDR技术商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。电话：027-87002165官网：http://www.mega-sense.com/公众号：“昊衡科技”或“大话光纤传感”