数据中心和云服务提供商正瞄准下一代800G技术，以应对网络带宽需求的日益增长。为满足今后800GbE的测试需求，安立公司率先推出了完整的800GbE测试解决方案，为800G产品的开发和性能验证提供了完整的测试能力。安立MP1900A是一款高性能、一体化的PAM4误码仪，内置了抖动、噪声、CDR、均衡/加重等功能，以及丰富的误码测试和分析功能，可同时实现8路接收误码测试;通过控制仪表内部的压力信号的注入，可以模拟各种损伤信号的产生，为产品的设计开发提供全方位的验证测试。

为了解决信号失真等困惑，MultiLane设计了具有优越信号完整性特别适用于400G产测的ML4054B误码测试仪。ML4054B集成误码测试与MSA合规测试夹具于一体，支持8X50G(26.6GPAM4)，支持QDD、OSFP及QSFP等封装，光模块可直接插入笼子，可兼顾光模块功耗监控、信号控制及寄存器读写。如需预约演示试用或了解更多详情，请致电深圳市唐领科技有限公司0755-23917251或email：sales@te-lead.com

误码测试的对象一般是指数字传输系统，可以理解为数字信息传输的信道，将码型发生器与被测对象的输入端相连，被测对象的输出端与误码检测器相连，就构成了误码测试结构的基本框图

讯石拜访深圳市品讯通信，与公司总经理罗国军、副总经理胡超及产品总监赵磊进行了交流。品讯通信是一家以高科技产品代理销售、市场推广、售前售后技术服务为一体的企业，公司产品服务于光通讯有源光模块、无源和光器件厂商、OTDR仪表以及数据存储、云计算厂商，可提供Chip、TO、TOSA/ROSA、IC、MT插芯和MPO散件、100G误码测试仪、OTDR用激光器和探测器、粘合胶水、COB自动耦合平台及TO管帽及陶瓷基板等产品。

讯石喜迎新会员——深圳品讯通信，这是一家以高科技产品代理销售、市场推广、售前售后技术服务为一体的企业，公司产品服务于光通讯有源光模块、无源和光器件厂商、OTDR仪表以及数据存储、云计算厂商，可提供Chip、TO、TOSA/ROSA、IC、MT插芯和MPO散件、100G误码测试仪、OTDR用激光器和探测器、粘合胶水、COB自动耦合平台及TO管帽及陶瓷基板等产品。

2018CIOE，武汉普赛斯电子将现场展出行业内最领先的光通信测试解决方案，包括COC老化监控与测试系统、全新8发4收100G误码仪、PAM4误码测试系统、TO高低温自动盘测系统、25G BOSA收发测试系统、EML系列完整解决方案、四工位模块测试系统、8工位BOB交错调测系统、APD TO一体式老化监控系统等。普赛斯展位号：1号馆1F05

对于一个误码仪(BERT)的基本结构来说，可以分为高速信号产生(PPG)和信号接收(ED)两大部分。目前需要进行误码测试的被测电路都是1至8通道的高速串行信号，在IEEE 100G Ethernet的802.3bj和OIF-CEI的25G-LR和28G-SR的标准中，都需要进行误码测试和抖动容限的测试，其中硬件平台的构建都离不开在不同的环境下比对误码。

中电科仪器仪表有限公司于OptiNet2018期间展出了众多自主产权的国产仪器仪表，如六马达干线光纤熔接机6481A系列、100G/400G误码测试仪等，前来参观咨询者络绎不绝，多款产品受到广泛关注！工信部科技委常务副主任、中国电信科技委主任韦乐平、中兴通讯副总裁贝劲松也莅临展台指导，并对中电仪器的发展与贡献作出了肯定评价。

引言 随着数据中心，高速光通信和电信数据网络的发展，采用NRZ编码的高速串行数据速率从传统的10Gbps每通道不断升级到32Gbps每通道。由于数据吞吐量爆发式增长，需要更高的单通道数据通信速率，编码方式也从传统的NRZ编码转变为了PAM4编码，在PAM4编码模式的支持下，每一路速率可以直接支持到56Gbps到112Gbps。 在最新的高速光模块接口和电模块接口标准中，200G和400G的以太网标准都是采用PAM4编码，同时内置了各种高级诊断的功能。 同样在消费电子类的产品中，也出现了PCIE Gen3/4、USB3.0/3.1、Thunderbolt、 SATA等各种高速总线，速率范围可以从2.5Gbps一直到32Gbps。针对PAM4的高速测试要求，PAM4码型发生器正成为高速误码测试的基本组成部分。 由于PAM4的信号产生有多种实现方式，下面就当前主流的PAM4码型发生器进行比较。

SHF自1983年成立至今，持续领航误码检测应用的发展，继2017年发布56Gbaud PAM4、100Gbaud PAM4码型发生器之后，SHF将于本月OFC2018期间为您展示业内首款56Gbaud PAM4信号误码检测设备。

安立公司与工业技术研究院(ITRI)联合宣布共建高速测试实验室，提供单通道速率达到56Gbaud (PAM4)/56Gb/s(NRZ)的误码率测试系统(BERT)。该误码率测试系统集成了宽带光谱分析仪(OSA)，高精度脉冲码型发生器(PPG)及高灵敏度的误码分析(ED)模块，用于产生具有快速的上升/下降时间、低抖动、低噪声及高输出幅度的高质量PAM/NRZ信号，支持高灵敏度，实时误码测试和分析功能。其能用于高速光模块及硅光相关组件，以准确测量其特性以及发送和接收的能力。