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昊衡科技自主研发以OFDR为核心的高分辨光学链路诊断仪OCI,具有超高空间分辨率,能精确测量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1mm,广泛应用于光器件、光模块、硅光芯片等内部链路反射情况测量,以下为一组硅发射芯片测量。
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