Dimension：回损测量值精准度的验证方法

  ICC讯 在光无源器件特别是跳线、连接器性能的测试中，插损和回损值是至关重要的指标，目前的插回损仪对插损的测试已经非常成熟，但回损测试经常因为数据复测波动较大，在回损值小于-60dB时，很难确保其测试值的精准度。

  维度科技自主研发的高性能免缠绕插回损测试仪，解决了插回损测试中经常遇到的诸如测试效率低、测试范围小、需要缠绕、不能测量较短光纤等问题，回损可检测到-80dB，并确保其精准性。

  下面我们使用维度科技的4通道可调POA衰减器（型号：POA1409A-FA）和高性能免缠绕插回损仪（型号：RLM1112A-1FA）对回损测量值的精准度，从原理和实测的数据进行对比、分析论证。

实验原理图

  被测标准线的回损值RL=-14.8dB，调节衰减器POA，按设定衰减量逐步增大衰减值，记录设定的每个衰减值以及连续读取10次测量RL值，计算测量值Δ (RL.max - RL.min)，并进行数据分析。实验过程如以下视频所示。我们分别对1310nm和1550nm波长，设定POA衰减值递增，分别读取 10次测量 RL值。

1310 RL验证数据

1550 RL验证数据

  结论：

  通过以上分别对波长1310nm和1550nm实际回损值测试数据分析，当RL>-70dB时，RL波动范围Δ＜0.5dB, 当RL处于-70dB~-75dB范围时，RL波动范围Δ＜1.5dB ；当RL处于~75dB-80dB时， 波动范围Δ＜2.5dB。

  由此可以证明，维度科技的免缠绕插回损仪不仅测试范围广（最低可检测-80dB），并测量精度高，测试值波动范围Δ (RL.max - RL.min)稳定。

  更多产品信息：www.dimension-tech.com