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评比产品

  • COC抽屉式老化监控测试系统

  • 公司: 武汉普赛斯电子技术有限公司

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参选宣言:普赛斯电子一直致力于服务光电生产企业,帮助光电企业降低生产成本,提高产品品质。而目前国内光电企业通过长时间的技术积累,往高速和前端方向发展,普赛斯电子抽屉式老化监控测试系统应运而生,旨在帮助高速光器件/模块生产企业解决的芯片级、器件级老化测试问题。

产品信息

  • 产品名称:COC抽屉式老化监控测试系统

  • 产品品牌:武汉普赛斯电子技术有限公司

  • 所属产品类别:系统设备与方案

产品简介

普赛斯电子凭借多年在光电生产测试领域的深耕以及对目前高速光电器件/模块生产企业的深入了解,推出“抽屉式老化监控测试系统”,适用于高速COC、高速BOX器件的生产老化测试,提高高速光模块的生产良率,降低生产成本,提高产品品质。

“抽屉式老化监控测试系统”旨在解决光电企业生产测试的难点。

难点1:COC尺寸太小,难以上料,难以加电;

普赛斯电子采用抽屉式老化监控测试系统,“电源”、“抽屉”、“夹具”三者分离,针对不同的COC或者BOX产品只需要更换配套的夹具即可适用,使得系统更加灵活,兼容性更强;

针对目前行业内普遍小于1mmx1mm以下封装的COC采用“推槽夹具”,帮助操作人员“0”难度的上下料,提高生产效率,避免转料带来的器件伤害;

配套带温控的LIV测试系统无需对COC等产品进行二次转料,直接通过夹具的转移即可完成LIV以及光谱的测试,便于老化前后的对比删选;

难点2:老化温度均匀性难以控制,测试的精度难以控制;

传统老化箱体体积过于庞大,温度均匀性难以控制,特别对于25G以上的CHIP对温度的要求苛刻,普赛斯电子“抽屉式”的设计,在较小的密闭空间内确保温度均匀性优异,并且业界独创的支持TEC或者电路板加热,确保可以满足特殊器件常温或者较低温度的老化。

配套的LIV测试系统电流以及采样精度高,支持脉冲模式的扫描,最大化减少器件自身发热带来的测试影响,提高测试的一致性和准确性,为筛选提供最可靠的对比数据。

难点3:受限于COC的PAD大小,老化加电不可靠,测试加电不稳定;

“抽屉式老化监控测试系统”采用POGO PIN加电方式,采用定位销高精度定位,既保证定位的可靠性,又不额外增加设备成本,在高温下连续工作可靠性高,测试过程加电稳定。采用氮气防护,确保老化以及测试过程中,无水蒸气以及氧气带来的影响,使得测试结果更加可靠。

公司信息

  • 武汉普赛斯电子技术有限公司

  • 网址:http://www.whprecise.com/

  • 地址:武汉东湖高新开发区流芳园路1号武汉仪表电子学校综合楼9楼

  • 联系人:纪铭

  • 邮箱:jim@whprecise.com

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