【OVC】专访Santec陈博士：专注于可调谐激光测试系统 打造中国快速服务体系

       ICCSZ讯 11月13日，第十六届“中国光谷”光电子国际博览会隆重开幕，光测试设备领导者圣德科（上海）光通信有限公司（简称Santec）展示一系列先进光测试设备，包括全波段可调谐激光器和快速扫描测试系统等先进测试设备，和光电子行业及客户交流互动。期间，Santec中国公司副总经理陈珏璋博士接受了讯石光通讯网编辑采访，陈博士表示本次OVC展会重点展示全波段可调谐激光器和快速扫描测试系统等最新先进设备系统，并介绍了中国市场服务体系。

       成立于1979年的Santec已经拥有40年发展历史，Santec一直专注在光源、可调谐技术、偏振控制器、滤波器等高性能测试的研发和创新，针对无源器件、波分器件（如CWDM/DWDM/AWG等）的IL和PDL测试需求，提供业界最先进的光测试设备。1987年，Santec率先推出全球第一台外腔型（External Cavity）可调谐半导体激光器，此后成为可调谐激光器技术的领先者。

       据了解，Santec的全波段可调谐激光器是全波段、高性能的可调谐激光系统，涵盖了超宽的调谐范围为1260-1680nm(O-band～U-band)。该系统结合了四个波段的可调谐激光器与光开关模块（OSU-100）和控制软件。适用于研发及生产测试。它可以通过电脑等设备通过GIPB、USB等轻松实现远程操控。它也可以和Santec的其他测试设备同时使用以实现PDL，WDL等测试工作（测量范围1260nm-1680nm）。

       Santec的快速扫描测试系统，通过实时记录可以同时获取可调激光器的输出功率与经过DUT的传输功率，从而精确计算出WDL/PDL的数据。采用Mueller矩阵生成快速的PDL测量方案。此系统也可简化为使用Santec 数据采集模块(SPU-100)搭配其他光学的功率计或探测器，可广泛用于WDL测试。通过采样和缩放算法在保持测试方案完整性上可以保持最大测试性能输出。另外，该系统尤其适用于DWDM和高Q光子器件光谱特性的测试。通过快速扫描和精确测量可有效节省时间，以确保测试设备的完整性和有效性。

       陈博士向讯石介绍：“Santec产品优势是高速扫描，目前每秒能达到200纳米，测量的波长动态范围广，适合各类复杂的波分器件，比如波长选择开关（WSS），其可测的线宽宽度达到0.1皮米，这在当前业界是领先的性能。”

作为光测试系统专家，陈博士认为测试设备需要为客户体验而考虑，例如性能方面，随着波分密度越来越小，光源测量在精准度和分辨率上要达到更高的水平。速度方面，主要是更快的扫描速度和数据采集的算法。从客户研发项目开始，Santec就瞄准了客户需求，提供一整套定制化、快速精准的测试方案，满足客户高效率的研发生产流程。

       如果从产品列表上看，Santec产品并不丰富，却力求在细分领域做到极致，这是日本科技企业的特点。为保持光通信测试设备的竞争力，客户服务体系尤其是技术支持就显得非常重要。据陈博士介绍，Santec日本总部负责研发和生产，在上海设有技术支持中心，近期在深圳也开设新的技术支持中心，主要是即时响应客户需求，为客户提供现场设备校准和设备维修服务，这也是提高客户体验的重要环节之一。

陈珏璋博士（中）与讯石编辑合影

       随着5G正式商用以及数据中心规模扩大，光器件厂商在面对未来市场海量需求的同时，光器件的性能质量也需要着重保障，快速精准的光测试方案将是企业研发生产的必要选择。Santec拥有40年光通讯测试技术创新积累，致力于光通信技术革新，将助力光通信客户更好地迎接5G时代的全新挑战。