武汉普赛斯电子亮相CIOE 2022，提供半导体、光通信检测方案及设备，助力光通信检测设备国产化
ICC讯 2022年9月7日-9日，第24中国国际光电博览会(CIOE 2022)将在深圳国际会展中心(宝安)举办。
武汉普赛斯电子技术有限公司届时将带去自主研发生产的VCSEL测试机、Chip自动测试系统、800G误码仪、器件及模块三温测试系统、脉冲源表、老化设备等产品及方案，诚邀您莅临信息通信展7号馆7A37普赛斯展位参观、交流及业务洽谈。
VCSEL 测试机(PSS WT-201)
普赛斯高功率VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试;支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
产品应用
典型的人脸识别、车载雷达等应用的VCSEL 芯片测试
高功率面发射芯片的验证测试
产品特点
集成自制超窄脉冲 SMU、最小脉冲到 1us，最大电流 30A
积分球同步收光，支持短脉冲 LIV 测试和光谱测试
支持晶圆位置识别和自动调整
测试载台采用高导热材料，TEC温控，温度范围可支持15~100°C
_支持四线制电压测试，排除环境线损对芯片电压测试结果的影响
_支持快速光谱测试;支持NF均匀性与坏点检测;支持FF测试发散角测试
_专利技术开发的低感高电流探针，支持窄脉冲大电流测试
800G 误码仪(PSS BERT1A881)
普赛斯800G高速误码测试系统(PSS BERT1A881)是一款针对于多通道PAM4和NRZ应用的高速信号误码性能分析仪，可支持8x112Gb/s PAM4信号测试，设备包含8路PPG，8路ED收发端信号可同时或者独立工作。
发端包含多级预加重调节模式，可针对PAM4信号进行眼型调节等功能，收端包含 CTLE均衡调节，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能KP4/KR4 FEC协议，Symbol Errors分析，具备SNR监测功能。
产品应用
多通道高速模块收发测试
器件研发生产测试
_ 有源光缆 (AOC), 高速线缆 (DAC)测试
产品特点
多通道选择：最高支持8通道独立或同时工作
PAM4速率选择：支持24.33~57.8GBaud，可定制
多码型选择：PRBS7/9/11/13/15/16/23/31、PRBS7~31Q、SSPRQ、JP03A、JP03B、CID jitter tolerance pattern、Transmitter linearity test pattern、User pattern等
测试载台采用高导热材料，TEC温控，温度范围可支持15~100°C
_发端支持预加重功能，收端支持均衡功能设置，支持CTLE、FFE、DFE等调节模式
_信号上升下降时间短，低抖动
_KR4/KP4 FEC功能，Symbol Errors错误分布解析
BOSA 三温测试系统(PSS BOSA3T10801)
普赛斯BOSA三温测试系统支持BOSA器件工业级低温、常温、高温的性能测试，包括LIV、APD光电特性测试以及光谱测试。系统采样TEC控温，温度范围为-40℃～85℃，相比使用传统的高低温箱控温，具有控温效率高，温度稳定性、均匀性好，测试效率高，操作简便的特点。
产品应用
BOSA器件的多路三温综合测试
产品特点
支持低温-40℃、常温、高温85℃条件下，BOSA的LIV扫描和光谱测试、Vbr、Id、Res、RL、Icc等综合性能测试
支持一键测试，以及三温数据对比
单工位4路测试，双工位共享OSA，节约设备资源和成本
小型TEC温控测试夹具，温控速度快，温度稳定性和均匀性好
大功率脉冲源(PSS PLT1401)
PSS PLT1401脉冲源适用于激光雷达TO、VCSEL阵列等大功率激光器的测试，支持脉冲PIV特性曲线和特性参数的测试，以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点。
产品应用
大功率激光雷达TO测试
VCSEL激光器阵列的测试
产品特点
支持ns级脉冲输出与测试
支持脉冲PIV扫描测试
支持脉冲波形检测
最大输出电压 40V，驱动电流可达到30A
_最小脉宽200ns，占空比≤ 0.1%
_提供外置积分球接口用于大功率检测
_PD 响应波长范围 400~1700nm
_支持本地和远程数据库，支持工业生产MES系统
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7号馆 7A37
新闻来源：讯石光通讯网