ICC讯 近日,日立高新技术公司主页上登载了由ficonTEC公司主办、日立高新技术集团旗下的VLC Photonics S.L.公司参与的网络研讨会。
这场网络研讨会时常30分钟左右,欢迎点击观看。
这场主题为 "PIC Testing with Wafer-level Test Systems" 的网络研讨会于去年举行,其中介绍了VLC Photonics S.L.如何使用ficonTEC公司的测试设备提供PIC测试服务。
网络研讨会概要内容如下:
由VLC Photonics S. L.公司首席执行官I?igo Artundo介绍VLC的PIC晶圆级测试技术,以及和ficonTEC之间进行对话形式的答疑。
第一部分:PIC测量需求和课题
第二部分:VLC的PIC测量解决方案(Automated Wafer-level Testing)
第三部分:用于端面耦合PIC测试的Wafer-Level Test技术
第四部分:答疑
如果您有任何关于网络研讨会的内容咨询的话,请通过下面的 "E-mail" 或者电话联系我们。
Email: optosales.aj.ml@hitachi-hightech.com
Tel: 0755-82029631
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新闻来源:日立高新技术集团