新品推介 | 联讯仪器12通道PXIe SMU，1μV/1pA极小分辨率，探索高密度测量新边界

探索高密度测量新边界

  在今天半导体工艺不断迭代与新能源迅猛发展的时代背景下，测试设备的精度与效率已成为推动产业发展与突破的关键性因素。联讯仪器PXIe SMU 12通道精密源表模块全新升级，以1μV/1pA极小分辨率与1MS/s采样率重新划定了高密度集成与高动态响应场景下的测试极限，为光通信、半导体行业升级注入了强劲的创新动能。

  性能升级

  为何它让行业沸腾?

  分辨率高达1μV/1pA

  电压和电流的测量分辨率分别高达1μV和1pA，能够精确捕捉nA级漏电流、超低功耗器件的“呼吸级”信号波动。

  12通道独立/同步控制

  支持多通道并行测试，可同时完成多颗器件或芯片的IV特性扫描，大幅提升测试效率!

 

  1MS/s高速测量

  12通道均可支持最高1MS/s采样率，瞬态信号无遗漏，毫秒级响应精准记录。

  10V/50mA宽动态覆盖

  从微瓦级物联网芯片到高密度集成电路，一卡满足多样化电压电流测试场景，告别设备频繁切换!

直流IV输出能力

  模块化灵活扩展

  基于PXIe平台，可与多种类型、多型号PXIe板卡无缝集成，构建全自动化测试系统。多张板卡堆叠使用可搭建上百通道源表测试系统。

  全栈自动化支持

  采用标准SCPI进行控制，支持C#、Python、C/C++、LabVIEW等编程语言控制，无缝融入现有测试平台。

  应用场景

  谁将因它而蜕变?

硅光晶圆多探针同步测试

  硅光晶圆测试：破解高集成芯片的暗电流难题

  在硅光芯片制造中，nA级暗电流的精准测量直接决定器件性能与良率。

  S2014C凭借1pA分辨率，可稳定捕捉超低暗电流信号，搭配12通道并行架构，支持晶圆级多探针同步测试，实现硅光器件漏电流、响应度等参数的全覆盖分析，为800G光模块、激光雷达芯片提供可靠性保障!

  电池研发与质检：从材料到Pack的全周期赋能

  新能源电池的充放电曲线、循环寿命等关键指标依赖高精度SMU模块。

  1MS/s采样率可实时捕获电池极化、内阻瞬变等微观现象。

  多通道实现电芯模组自放电测试，大幅缩短BMS验证周期。

多通道实现电芯模组自放电测试

  结语

  S2014C以高精度与微弱信号测试为核心优势，能够精准捕捉毫伏级甚至微伏级的信号变化，为科研与工业应用提供可靠的数据支持。无论是复杂的测试场景还是严苛的测量需求，它都能以卓越的性能和稳定性，满足多样化测试需求。