全面高效评估Combo PON光器件的复杂光路性能

       ICCSZ讯 宽带作为经济发展基础平台的作用日益突出。为应对不断增长的高带宽需求，运营商已普遍提供百兆以上业务，并在部分地区开通千兆接入作为方向引领。解决GPON与XG-PON共存是下一代PON部署重点。XG-PON标准为ITU-T G.987系列，是下行10Gbit/s、上行2.5Gbit/s的非对称模式。GPON和XGPON频谱完全独立，XGPON不能直接兼容GPON，实现GPON和XGPON的共存可通过合波方式将GPON升级到XG-GPON。采用光模块合一的Combo PON方案，使GPON和10G GPON光波在一个光模块内进行双通道合波后从同一光口输出;进行10G GPON升级时，只需用Combo PON线卡替换原OLT上的GPON线卡，原GPON线卡上的光纤同步割接到Combo PON线卡上即可实现GPON和10G GPON的共存。

  目前Combo PON的光路大多采用高斯光束或单片准直透镜进行的准直光路，光器件的光学设计复杂，而且由于光束需要通过较多的角度滤光片，功率损耗过大，复杂光路的隔离和串扰成为测试难点，两发两收的测试效率也制约了生产制造的产能。

  上图所示，Combo PON器件内部需要多个准直透镜以及多个滤波片才能完成两发两收的复杂光路设计，为了满足XGPON的实际应用场景，要充分评估两个发射波长对不同接收的内部光串扰，这对PON系统尤为重要。

  普赛斯结合Combo PON测试难点，推出一键Combo PON器件综合测试系统，模拟器件真实应用场景，30秒一键完成两发两收的近30多种综合参数的测试，包括DML发射和EML发射，以及双接收的灵敏度测试，配套专利的测试夹具，能够支持复杂光路的内部串扰测试，测试效率高，设备集成度高，全面高效的评估Combo PON光器件的复杂光路性能，帮助生产企业提高产品性能和测试效率。