OFC 2024|来EXFO展台1017探索创新解决方案

  ICC讯 第49届光网络与通信研讨会及博览会(OFC) 正在美国加州圣地亚哥会展中心举行。欢迎莅临EXFO #1017展位了解如下创新解决方案！

  光子集成电路（PIC）

  EXFO具有独特的专利测试能力，在业绩处于领先地位

  从测试条形、裸片、晶圆级或封装元件，到通过对无源和有源光学元件进行高精度光谱表征来有效地将光传送到器件上，EXFO的解决方案将精度和自动化相结合，帮助企业应对当今的挑战。

  本次OFC  EXFO会展示我们的两种元件测试解决方案，欢迎莅临 1017展位一探究竟:

  · 光子集成电路 (PIC) 的自动测试将在独特的新型多裸片测试探针台 OPAL-MD 上进行展示。该测试站可对多个芯片进行顺序自动测试，动态调整测试条件、参数和结果处理。

  · 我们的 CTP10 元件测试平台简化了光谱测试，减少了设置时间，并允许轻松重新配置测试，以包括 PDL、回波损耗甚至光电流。

  800G/1.6T测试方案

  EXFO为高速系统提供完整的从电到光的测试

  我们的模块化 400G、800G 和 1.6TB 解决方案可提供机架式或便携式配置，为客户的测试程序带来极致的速度和灵活性。

  解决方案包括

  · FTBx-88800 系列：实验室 800G 测试解决方案（光学、DCO 和 LPO）

  -首款支持 800G ZR 收发器的紧凑型便携式验证工具

  -1x800G、2x400G、8x100G 客户端和 400G/800G DCO

  -链路训练功能

  -800G 多端口，包括 OSFP 和 QSFP-DD 测试端口

  · BA-4000-L2 流量和比特分析仪：用于研发和制造的 800G/1.6T 测试仪（L2 流量、L1 误码率)

  -利用 L2 帧进行 BERT，用于 IEEE 802.3dj FECi 和 FECo 误码率测试

  -实时流量 FEC 分析

  -信号质量极佳的本地电子接口

  -强大的 RX EQ、CTLE、32 分路 FFE+DFE

  EXFO还在本次OFC与众多行业创新者联合展示综合解决方案，欢迎关注！